パッシブセンサ読み取り装置、および、物理量測定システム[ja]

被引：0

申请号：

JP20200076248

申请日：

2020-04-22

公开(公告)号：

JP7485921B2

公开(公告)日：

2024-05-17

发明(设计)人：

申请人：

申请人地址：

IPC主分类号：

G01N29/02

IPC分类号：

G01K7/32

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法律状态信息

共 50 条

[1]

物理量測定システムおよび物理量測定装置[ja] [P].

日本专利 :JP7492121B2 ,2024-05-29

[2]

物理量測定装置、物理量測定システム[ja] [P].

日本专利 :JPWO2014129071A1 ,2017-02-02

[3]

物理量測定システム[ja] [P].

日本专利 :JP7453878B2 ,2024-03-21

[4]

物理量測定装置、物理量測定システム[ja] [P].

日本专利 :JP5928652B2 ,2016-06-01

[5]

物理量センササブアセンブリおよび物理量測定装置[ja] [P].

日本专利 :JP6520636B2 ,2019-05-29

[6]

センサアッシーおよび物理量測定装置[ja] [P].

日本专利 :JP6964063B2 ,2021-11-10

[7]

物理量測定装置および物理量監視システム[ja] [P].

日本专利 :JP7116037B2 ,2022-08-09

[8]

物理量推定システムおよび物理量推定方法[ja] [P].

日本专利 :JP7131645B1 ,2022-09-06

[9]

物理量推定システムおよび物理量推定方法[ja] [P].

KAWAMURA CHIKAKO ;

SHANAI DAISUKE ;

TANI TAKEHIKO .

日本专利 :JP2022169675A ,2022-11-09

[10]

物理量推定システムおよび物理量推定方法[ja] [P].

日本专利 :JP7205658B2 ,2023-01-17

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