共 50 条
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試験測定装置及び被試験デバイスの性能測定方法[ja]
被引：0
申请号：
JP20230098605
申请日：
2023-06-15
公开(公告)号：
JP2023183409A
公开(公告)日：
2023-12-27
发明(设计)人：
PICKERD JOHN J
TAN KAN
申请人：
TEKTRONIX INC
申请人地址：
IPC主分类号：
G01R13/20
IPC分类号：
G01R13/02
代理机构：
代理人：
法律状态：
国省代码：
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法律状态
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