超音波プローブ及び超音波診断装置[ja]

被引：0

申请号：

JP20220151549

申请日：

2022-09-22

公开(公告)号：

JP2024046263A

公开(公告)日：

2024-04-03

发明(设计)人：

OSAWA ATSUSHI

申请人：

FUJIFILM CORP

申请人地址：

IPC主分类号：

A61B8/00

IPC分类号：

H04R1/02

代理机构：

代理人：

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法律状态信息

共 50 条

[1]

超音波プローブ及び超音波診断装置[ja] [P].

OSAWA ATSUSHI .

日本专利 :JP2024046264A ,2024-04-03

[2]

超音波プローブおよび超音波診断装置[ja] [P].

KOBAYASHI YUSUKE ;

SHIKATA HIROYUKI ;

TAKI MAKOTO .

日本专利 :JP2024014114A ,2024-02-01

[3]

ＩＣダイ、超音波プローブ、超音波診断システム及び方法[ja] [P].

日本专利 :JP2017514556A ,2017-06-08

[4]

超音波診断装置、超音波診断装置の制御方法、及びプログラム[ja] [P].

KIWADA YASUSHI ;

NAGASAKI YUYA ;

KAKEE AKIHIRO ;

NISHIHARA KURAMITSU .

日本专利 :JP2025099751A ,2025-07-03

[5]

圧迫部材、超音波探触子及び超音波診断装置[ja] [P].

日本专利 :JPWO2006080399A1 ,2008-06-19

[6]

穿刺針用超音波プローブ、およびそれを用いる超音波診断装置[ja] [P].

日本专利 :JPWO2014156236A1 ,2017-02-16

[7]

超音波探触子及び超音波撮像装置[ja] [P].

日本专利 :JPWO2006041050A1 ,2008-05-15

[8]

超音波プローブの改良および超音波プローブに関連する改良[ja] [P].

日本专利 :JP2024546704A ,2024-12-26

[9]

超音波振動付与具及び超音波加工装置[ja] [P].

日本专利 :JPWO2018147445A1 ,2020-01-16

[10]

超音波診断装置及びビーム形成方法[ja] [P].

NISHIHARA KURAMITSU .

日本专利 :JP2025040780A ,2025-03-25

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