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膜形成用組成物及び半導体基板の製造方法[ja]
被引:0
申请号
:
JP20220092076
申请日
:
2022-06-07
公开(公告)号
:
JP2023179038A
公开(公告)日
:
2023-12-19
发明(设计)人
:
HAYASHI YUYA
YAMADA SHUHEI
YONEDA EIJI
申请人
:
JSR CORP
申请人地址
:
IPC主分类号
:
C07D487/04
IPC分类号
:
H01L21/266
C08G8/00
C08G8/28
H01L21/265
代理机构
:
代理人
:
法律状态
:
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
共 50 条
[1]
半導体基板の製造方法及び半導体基板製造用組成物[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2020171054A1
,2021-12-16
[2]
半導体基板洗浄用膜形成組成物及び半導体基板の洗浄方法[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2017056746A1
,2018-07-19
[3]
金属含有膜形成用組成物、金属含有膜形成用組成物の製造方法、半導体装置、及び半導体装置の製造方法[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2017200107A1
,2019-02-14
[4]
有機半導体膜形成用組成物、及び有機半導体膜の製造方法[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2016039216A1
,2017-04-27
[5]
半導体用膜組成物、半導体用膜組成物の製造方法、半導体用部材の製造方法、半導体用工程材の製造方法及び半導体装置[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2017086360A1
,2018-04-05
[6]
半導体用膜組成物、半導体用膜組成物の製造方法、半導体用部材の製造方法、半導体用工程材の製造方法及び半導体装置[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2017086361A1
,2018-05-24
[7]
有機半導体膜形成用の組成物、有機半導体膜、及びその製造方法[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2016024485A1
,2017-06-01
[8]
研磨用組成物、研磨用組成物の製造方法、研磨方法、半導体基板の製造方法[ja]
[P].
MAE RYOTA
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
FUJIMI INC
FUJIMI INC
MAE RYOTA
.
日本专利
:JP2024048924A
,2024-04-09
[9]
有機半導体膜形成用組成物、有機半導体膜及びその製造方法、並びに、有機半導体素子[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2018061821A1
,2019-03-22
[10]
半導体製造用組成物[ja]
[P].
OKADA TAKUMI
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
MITSUBISHI GAS CHEMICAL CO
MITSUBISHI GAS CHEMICAL CO
OKADA TAKUMI
;
HOSHINO RYOSUKE
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
MITSUBISHI GAS CHEMICAL CO
MITSUBISHI GAS CHEMICAL CO
HOSHINO RYOSUKE
;
SATO HIDEYUKI
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
MITSUBISHI GAS CHEMICAL CO
MITSUBISHI GAS CHEMICAL CO
SATO HIDEYUKI
;
KATAGIRI MASAYUKI
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
MITSUBISHI GAS CHEMICAL CO
MITSUBISHI GAS CHEMICAL CO
KATAGIRI MASAYUKI
;
ECHIGO MASATOSHI
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
MITSUBISHI GAS CHEMICAL CO
MITSUBISHI GAS CHEMICAL CO
ECHIGO MASATOSHI
.
日本专利
:JP2024112547A
,2024-08-21
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