共 50 条
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試料を分析するためのＸ線装置及び方法[ja]
被引：0
申请号：
JP20240035316
申请日：
2024-03-07
公开(公告)号：
JP2024127870A
公开(公告)日：
2024-09-20
发明(设计)人：
MILEN GATESHKI
DETLEF BECKERS
申请人：
MALVERN PANALYTICAL BV
申请人地址：
IPC主分类号：
G01N23/20
IPC分类号：
G01N23/20008
代理机构：
代理人：
法律状态：
国省代码：
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法律状态
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