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光源装置、加工装置、および検査方法[ja]
被引:0
申请号
:
JP20210098700
申请日
:
2021-06-14
公开(公告)号
:
JP7585987B2
公开(公告)日
:
2024-11-19
发明(设计)人
:
申请人
:
申请人地址
:
IPC主分类号
:
G02B6/42
IPC分类号
:
B23K26/21
B23K26/38
代理机构
:
代理人
:
法律状态
:
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
共 50 条
[1]
検査装置および加工装置[ja]
[P].
日本专利
:JP2022054895A
,2022-04-07
[2]
光源装置、検査装置、および調整方法[ja]
[P].
日本专利
:JP7132455B1
,2022-09-06
[3]
光源装置、検査装置、および調整方法[ja]
[P].
SAKUMA JUN
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
LASERTEC CORP
LASERTEC CORP
SAKUMA JUN
;
MORI RYOTARO
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
LASERTEC CORP
LASERTEC CORP
MORI RYOTARO
.
日本专利
:JP2024004021A
,2024-01-16
[4]
レーザ光源装置および検査装置[ja]
[P].
日本专利
:JP7154985B2
,2022-10-18
[5]
検査装置及び加工装置[ja]
[P].
日本专利
:JP7519787B2
,2024-07-22
[6]
検査装置、及び加工装置[ja]
[P].
日本专利
:JP7282461B2
,2023-05-29
[7]
載置用部材、検査装置および加工装置[ja]
[P].
日本专利
:JP7497210B2
,2024-06-10
[8]
光源装置および加工方法[ja]
[P].
日本专利
:JP5975026B2
,2016-08-23
[9]
光源装置および加工方法[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2012165588A1
,2015-02-23
[10]
接触検出方法および加工装置[ja]
[P].
日本专利
:JP7285595B2
,2023-06-02
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