闪烁晶体发光衰减时间的测量方法及测量系统

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202111466301.X

申请日：

2021-12-03

公开(公告)号：

CN114152971B

公开(公告)日：

2024-11-22

发明(设计)人：

张泽涛王强丁雨憧王璐屈菁菁董鸿林甘禹李金徐扬

申请人：

中国电子科技集团公司第二十六研究所

申请人地址：

400060 重庆市南岸区南坪花园路14号

IPC主分类号：

G01T7/00

IPC分类号：

代理机构：

重庆博凯知识产权代理有限公司 50212

代理人：

李海华

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-11-22	授权	授权

共 50 条

[1]

闪烁晶体发光衰减时间的测量方法及测量系统 [P].

张泽涛 ;

王强 ;

丁雨憧 ;

王璐 ;

屈菁菁 ;

董鸿林 ;

甘禹 ;

李金 ;

徐扬 .

中国专利 :CN114152971A ,2022-03-08

[2]

闪烁晶体单粒子激发时间分辨光谱的测量系统及测量方法 [P].

许孟轩 ;

陈亮 ;

欧阳晓平 .

中国专利 :CN108051842A ,2018-05-18

[3]

对闪烁晶体光衰减时间差异测量方法和系统 [P].

吕绮雯 ;

吴和宇 .

中国专利 :CN109254315B ,2019-01-22

[4]

一种闪烁体发光衰减时间数字化测量系统及测量方法 [P].

李立君 .

中国专利 :CN112255665B ,2024-03-22

[5]

一种闪烁体发光衰减时间数字化测量系统及测量方法 [P].

李立君 .

中国专利 :CN112255665A ,2021-01-22

[6]

时间分辨光谱的测量方法及测量装置 [P].

黄世华 ;

梁春军 ;

崔尚科 .

中国专利 :CN1587929A ,2005-03-02

[7]

时间测量装置、时间测量方法、发光寿命测量装置及发光寿命测量方法 [P].

北泽健 ;

西泽充哲 ;

伊东孝 .

中国专利 :CN106716266A ,2017-05-24

[8]

时间测量系统及时间测量方法 [P].

王培林 ;

魏书军 ;

李道武 ;

帅磊 ;

丰宝桐 ;

胡婷婷 ;

孙芸华 ;

魏龙 .

中国专利 :CN102736511A ,2012-10-17

[9]

一种超短激光脉冲时间强度分布的测量系统及测量方法 [P].

贺志刚 ;

吴国荣 ;

陈志超 ;

田宇欢 ;

张未卿 ;

杨学明 .

中国专利 :CN113959568B ,2022-01-21

[10]

微波高速开关的开关时间测量系统及测量方法 [P].

吕实诚 .

中国专利 :CN104267338A ,2015-01-07

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