芯片的测试方法、装置、存储介质、电子设备和车辆

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202410851213.9

申请日：

2024-06-27

公开(公告)号：

CN118838762A

公开(公告)日：

2024-10-25

发明(设计)人：

赵目龙杨莉苗欣王泽尉杨柄楠李泽李恒宽吕佳文王心月

申请人：

中国第一汽车股份有限公司

申请人地址：

130011 吉林省长春市汽车经济技术开发区新红旗大街1号

IPC主分类号：

G06F11/22

IPC分类号：

G06N20/00 G01R31/28

代理机构：

北京博浩百睿知识产权代理有限责任公司 11134

代理人：

曾红芳

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

安徽省宣城市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-11-12	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G06F 11/22申请日:20240627
2024-10-25	公开	公开

共 50 条

[1]

车辆芯片测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

杨柄楠 ;

王强 ;

赵目龙 ;

王泽尉 ;

田辉 ;

王宗罡 ;

宋金海 ;

李泽 ;

王天宇 ;

王亚明 .

中国专利 :CN119536207A ,2025-02-28

[2]

车辆的测试方法、装置、存储介质和电子设备 [P].

高艳 ;

张东波 ;

赵德银 ;

张博 ;

黄子秋 ;

周忠贺 ;

王昭懿 ;

秦熠琳 .

中国专利 :CN118426444A ,2024-08-02

[3]

芯片的替换方法、装置、电子设备、存储介质和车辆 [P].

邢繁洋 ;

王强 ;

王泽尉 ;

王天宇 ;

李恒宽 ;

苗欣 ;

孙健哲 .

中国专利 :CN118536004A ,2024-08-23

[4]

车辆软件的测试方法、装置、存储介质和电子设备 [P].

郑嘉全 ;

王建国 ;

史历 ;

孟凡华 ;

成春雨 ;

袁昊 .

中国专利 :CN118796687A ,2024-10-18

[5]

芯片测试方法、装置、电子设备和存储介质 [P].

李治贤 .

中国专利 :CN120315952A ,2025-07-15

[6]

芯片测试方法、装置、电子设备和存储介质 [P].

王俊杰 .

中国专利 :CN118394584A ,2024-07-26

[7]

芯片测试方法、装置、电子设备和存储介质 [P].

王俊杰 .

中国专利 :CN118394584B ,2024-10-18

[8]

车辆的测试方法、装置、车辆、电子设备和存储介质 [P].

陈豪 .

中国专利 :CN118567321A ,2024-08-30

[9]

车辆测试方法、装置、电子设备和存储介质 [P].

杨玉玲 ;

胡贤 ;

余斌峰 ;

刘浩淼 ;

杨旭升 .

中国专利 :CN114779732A ,2022-07-22

[10]

交互方法、装置、电子设备、车辆、芯片和存储介质 [P].

熊川 .

中国专利 :CN121008712A ,2025-11-25

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