X射线检查装置、X射线检查方法及X射线检查程序

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202280084328.9

申请日：

2022-05-27

公开(公告)号：

CN118829875A

公开(公告)日：

2024-10-22

发明(设计)人：

野口健二

申请人：

泰可诺智能株式会社

申请人地址：

日本爱知县名古屋市南区千竈路2段13-1号

IPC主分类号：

G01N23/046

IPC分类号：

代理机构：

北京维正专利代理有限公司 11508

代理人：

全万志

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-11-08	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01N 23/046申请日:20220527
2024-10-22	公开	公开

共 50 条

[1]

X射线检查装置及X射线检查方法 [P].

金炯骏 ;

申东焕 .

韩国专利 :CN118843788A ,2024-10-25

[2]

X射线检查装置及X射线检查方法 [P].

杉田信治 ;

梅本勇治 ;

大西贵子 .

中国专利 :CN107490586A ,2017-12-19

[3]

X射线检查装置及X射线检查方法 [P].

杉田信治 ;

益田真之 ;

村上清 .

中国专利 :CN102192918A ,2011-09-21

[4]

X射线检查装置及X射线检查方法 [P].

山村步辉 ;

林将平 ;

中井康博 .

日本专利 :CN119234143A ,2024-12-31

[5]

X射线检查装置及X射线检查方法 [P].

益田真之 ;

加藤训之 ;

杉田信治 ;

松波刚 ;

佐佐木泰 .

中国专利 :CN101960296B ,2011-01-26

[6]

X射线检查装置及X射线检查方法 [P].

山村歩辉 ;

林将平 ;

佐久间敦士 .

日本专利 :CN119731529A ,2025-03-28

[7]

X射线检查装置及X射线检查方法 [P].

杉田信治 ;

加藤训之 ;

益田真之 ;

松波刚 .

中国专利 :CN102150036A ,2011-08-10

[8]

X射线检查装置及X射线检查方法 [P].

金炯骏 ;

申东焕 .

韩国专利 :CN118843789A ,2024-10-25

[9]

X射线检查装置及使用X射线检查装置的X射线检查方法 [P].

益田真之 ;

松波刚 ;

小泉治幸 .

中国专利 :CN101266218A ,2008-09-17

[10]

X射线检查装置以及X射线检查方法 [P].

七吕真 ;

惠木守 .

中国专利 :CN115078417A ,2022-09-20

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