芯片测试方法、装置、计算机设备和可读存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202410811765.7

申请日：

2024-06-21

公开(公告)号：

CN118884163A

公开(公告)日：

2024-11-01

发明(设计)人：

魏中晴蒋进松张沈宇谭渝

申请人：

上海合芯数字科技有限公司合芯科技有限公司

申请人地址：

201306 上海市浦东新区中国(上海)自由贸易试验区临港新片区环湖西二路888号C楼

IPC主分类号：

G01R31/28

IPC分类号：

G06F11/22

代理机构：

华进联合专利商标代理有限公司 44224

代理人：

关颖

法律状态：

公开

国省代码：

广东省广州市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-11-01	公开	公开

共 50 条

[1]

芯片测试方法、装置、计算机设备和存储介质 [P].

蒋进松 ;

张沈宇 ;

马云姣 ;

魏中晴 ;

谭渝 .

中国专利 :CN118069440A ,2024-05-24

[2]

芯片测试方法、装置、计算机设备、可读存储介质和程序产品 [P].

游飞 ;

李茂 ;

张驰恒 .

中国专利 :CN120066875A ,2025-05-30

[3]

芯片测试方法、装置、计算机设备、可读存储介质和程序产品 [P].

雷金树 ;

游飞 ;

肖建利 ;

周扬 ;

胡勇 .

中国专利 :CN118534301A ,2024-08-23

[4]

芯片测试方法、装置、计算机设备、可读存储介质和程序产品 [P].

游飞 ;

李茂 ;

张驰恒 .

中国专利 :CN120066875B ,2025-07-18

[5]

芯片测试方法、装置、计算机设备和存储介质 [P].

张学利 ;

张玄 .

中国专利 :CN119902940A ,2025-04-29

[6]

压力测试方法、装置、计算机设备和可读存储介质 [P].

苏宇辰 .

中国专利 :CN119576722A ,2025-03-07

[7]

系统测试方法、装置、计算机设备和可读存储介质 [P].

李潇 ;

魏玮 .

中国专利 :CN119645850A ,2025-03-18

[8]

测试方法、装置、计算机可读存储介质和计算机设备 [P].

李阳 .

中国专利 :CN107832206A ,2018-03-23

[9]

测试设备、测试方法、计算机设备和计算机可读存储介质 [P].

吴承明 ;

朱阿男 ;

毛孝飞 ;

丁明华 .

中国专利 :CN108490338A ,2018-09-04

[10]

测试方法、装置、计算机可读存储介质和计算机设备 [P].

杨军 ;

文施嘉 .

中国专利 :CN110221983B ,2024-01-16

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