一种集成电路用氧化铝陶瓷基片中氧化铝含量的快速测定方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202210678548.6

申请日：

2022-06-16

公开(公告)号：

CN114994111B

公开(公告)日：

2024-11-22

发明(设计)人：

谢开锋杨秋余立架时晓露

申请人：

宁波新材料测试评价中心有限公司

申请人地址：

315042 浙江省宁波市高新区沧海路189弄2号

IPC主分类号：

G01N23/223

IPC分类号：

G01N27/626

代理机构：

宁波元为知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 33291

代理人：

单英

法律状态：

授权

国省代码：

浙江省宁波市

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法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-11-22	授权	授权

共 50 条

[1]

一种集成电路用氧化铝陶瓷基片中氧化铝含量的快速测定方法 [P].

谢开锋 ;

杨秋 ;

余立架 ;

时晓露 .

中国专利 :CN114994111A ,2022-09-02

[2]

氧化铝陶瓷基片组 [P].

秦乐宁 ;

龚卫忠 ;

邓磊 ;

谢怀婷 .

中国专利 :CN202996808U ,2013-06-12

[3]

一种氧化铝陶瓷材料的制备方法及氧化铝陶瓷基片 [P].

高朋召 ;

刘小磐 ;

郑航博 ;

王垣力 .

中国专利 :CN113185268B ,2021-07-30

[4]

99.6%氧化铝陶瓷薄膜基片 [P].

陈凤宇 ;

朴元日 .

中国专利 :CN102464485A ,2012-05-23

[5]

氧化铝陶瓷基片及其制造方法 [P].

郑双喜 ;

陈江涛 ;

胡海涛 .

中国专利 :CN117383909A ,2024-01-12

[6]

氧化铝陶瓷基片及其制造方法 [P].

郑双喜 ;

陈江涛 ;

胡海涛 .

中国专利 :CN117383909B ,2025-12-26

[7]

氧化铝齿形陶瓷基片 [P].

刘瑞华 .

中国专利 :CN301845299S ,2012-02-22

[8]

氧化铝齿形陶瓷基片 [P].

刘瑞华 .

中国专利 :CN301845300S ,2012-02-22

[9]

99.6%氧化铝陶瓷薄膜基片的制备方法 [P].

陈凤宇 ;

朴元日 .

中国专利 :CN102464486A ,2012-05-23

[10]

一种氧化铝陶瓷基片及其制备方法 [P].

方豪杰 ;

张晓云 ;

张国秀 ;

贺亦文 ;

方美玲 ;

刘建平 ;

曾雄 .

中国专利 :CN120208648A ,2025-06-27

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