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分析装置および分析装置の制御方法[ja]
被引:0
申请号
:
JP20200014344
申请日
:
2020-01-31
公开(公告)号
:
JP7472512B2
公开(公告)日
:
2024-04-23
发明(设计)人
:
申请人
:
申请人地址
:
IPC主分类号
:
G01N23/2206
IPC分类号
:
G01N23/2251
G01N23/2252
代理机构
:
代理人
:
法律状态
:
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
共 50 条
[1]
分析制御装置、分析装置、分析制御方法および分析方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6973123B2
,2021-11-24
[2]
分析装置およびその制御方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6728797B2
,2020-07-22
[3]
分析装置およびその制御方法[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2010038853A1
,2012-03-01
[4]
肌分析方法、肌分析装置および肌分析装置の制御方法[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2015015793A1
,2017-03-02
[5]
肌分析方法、肌分析装置および肌分析装置の制御方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6343612B2
,2018-06-13
[6]
自動分析装置および自動分析装置の制御方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6995090B2
,2022-01-14
[7]
X線分析装置、およびX線分析装置の制御方法[ja]
[P].
ONO TAKAO
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
SHIMADZU CORP
SHIMADZU CORP
ONO TAKAO
.
日本专利
:JP2024011249A
,2024-01-25
[8]
試料分析装置および試料分析装置の制御方法[ja]
[P].
日本专利
:JP5830331B2
,2015-12-09
[9]
自動分析装置および自動分析装置の制御方法[ja]
[P].
日本专利
:JP2025167808A
,2025-11-07
[10]
自動分析装置および自動分析装置の制御方法[ja]
[P].
日本专利
:JP7073438B2
,2022-05-23
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