一种药品表面全方位缺陷检测设备

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202411023411.2
申请日
2024-07-29
公开(公告)号
CN118831841A
公开(公告)日
2024-10-25
发明(设计)人
蔡仲伦 李照锁 徐楠 胡雪林
申请人
平方和(北京)科技有限公司
申请人地址
100094 北京市海淀区北清路81号一区1号楼11层1101室
IPC主分类号
B07C5/34
IPC分类号
B07C5/02 B07C5/36 B07C5/38 G01N33/15
代理机构
代理人
法律状态
实质审查的生效
国省代码
北京市 市辖区
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共 50 条
[1]
一种药品外观全方位特征缺陷检测设备 [P]. 
蔡仲伦 ;
徐楠 ;
李照锁 ;
胡雪林 .
中国专利 :CN118649905A ,2024-09-17
[2]
一种药品外观全方位特征缺陷检测设备 [P]. 
蔡仲伦 ;
徐楠 ;
李照锁 ;
胡雪林 .
中国专利 :CN118649905B ,2025-12-02
[3]
一种药品表面全方位特征采集方法及缺陷检测系统 [P]. 
蔡仲伦 ;
胡雪林 ;
李照锁 ;
徐楠 .
中国专利 :CN119000698A ,2024-11-22
[4]
全方位缺陷检测设备 [P]. 
苏金财 ;
陈春芙 .
中国专利 :CN110000111A ,2019-07-12
[5]
全方位缺陷检测设备 [P]. 
苏金财 ;
陈春芙 .
中国专利 :CN210059028U ,2020-02-14
[6]
一种药品外观全方位特征采集方法及缺陷检测系统 [P]. 
蔡仲伦 ;
李照锁 ;
胡雪林 ;
徐楠 .
中国专利 :CN118896963A ,2024-11-05
[7]
全方位外观缺陷检测设备 [P]. 
周飞龙 ;
毛马明 ;
孔文靖 .
中国专利 :CN114405860A ,2022-04-29
[8]
全方位外观缺陷检测设备 [P]. 
周飞龙 ;
毛马明 ;
孔文靖 .
中国专利 :CN217007033U ,2022-07-19
[9]
一种外观缺陷全方位检测设备 [P]. 
侯文峰 ;
吴盛钧 ;
方文勇 .
中国专利 :CN107703151B ,2024-01-09
[10]
一种外观缺陷全方位检测设备 [P]. 
侯文峰 ;
吴盛钧 ;
方文勇 .
中国专利 :CN107703151A ,2018-02-16