基于压缩的扫描测试系统

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202410644327.6
申请日
2024-05-23
公开(公告)号
CN119024145A
公开(公告)日
2024-11-26
发明(设计)人
S·杰恩 S·帕塔克 P·辛格
申请人
意法半导体国际公司
申请人地址
瑞士
IPC主分类号
G01R31/3185
IPC分类号
代理机构
中国贸促会专利商标事务所有限公司 11038
代理人
张丹
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[1]
基于SVF格式测试输入文件的并行边界扫描测试系统 [P]. 
王婕 ;
吕志鸿 ;
李闯 ;
王晓瑶 ;
张凯 ;
张瑶 ;
黄建军 ;
杜冰斌 ;
朱新凯 ;
史琪 .
中国专利 :CN120596318A ,2025-09-05
[2]
扫描测试系统 [P]. 
彼得·沃尔 ;
约翰·A·威库考斯基 ;
弗瑞德里克·J·纽费克斯 .
中国专利 :CN101821641B ,2010-09-01
[3]
扫描测试系统 [P]. 
彼得·沃尔 ;
约翰·A·威库考斯基 ;
弗瑞德里克·J·纽费克斯 .
中国专利 :CN103018661A ,2013-04-03
[4]
用于基于事件的测试系统的扫描矢量支持 [P]. 
安东尼·勒 ;
罗基特·拉伊休曼 .
中国专利 :CN1486429A ,2004-03-31
[5]
多链边界扫描测试系统及多链边界扫描测试方法 [P]. 
蔡军 ;
王伟国 ;
陈进文 .
中国专利 :CN1516015B ,2004-07-28
[6]
Z扫描测试系统 [P]. 
程基超 ;
董星辰 ;
曾敏 ;
范静涛 .
中国专利 :CN119438136A ,2025-02-14
[7]
边界扫描测试系统 [P]. 
张释文 .
中国专利 :CN105334451A ,2016-02-17
[8]
用于生成参考扫描链测试数据的测试装置和测试系统 [P]. 
马库斯·瑟陵 ;
迈克尔·伯劳恩 .
中国专利 :CN103154755A ,2013-06-12
[9]
边界扫描测试系统及测试方法 [P]. 
朱鸿儒 .
中国专利 :CN101865976A ,2010-10-20
[10]
混合信号电路边界扫描测试系统 [P]. 
颜学龙 ;
黄新 ;
雷加 ;
陈寿宏 ;
李延平 ;
何峰 ;
尚玉玲 ;
马峻 ;
谈恩民 .
中国专利 :CN202929169U ,2013-05-08