芯片检测方法及芯片检测辅助治具

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202411397245.2

申请日：

2024-10-08

公开(公告)号：

CN119000716A

公开(公告)日：

2024-11-22

发明(设计)人：

李济严李健范海波马亮赵鹏

申请人：

威讯联合半导体（北京）有限公司

申请人地址：

100176 北京市大兴区经济技术开发区同济中路17号

IPC主分类号：

G01N21/95

IPC分类号：

G01N21/01

代理机构：

北京品源专利代理有限公司 11332

代理人：

吴萌

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-12-10	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01N 21/95申请日:20241008
2024-11-22	公开	公开

共 50 条

[1]

一种芯片检测治具及裸片检测治具 [P].

秦晓亮 .

中国专利 :CN223461618U ,2025-10-21

[2]

芯片检测方法、芯片检测装置 [P].

吕智谋 ;

刘宁 ;

黄孟孟 .

中国专利 :CN118245311A ,2024-06-25

[3]

芯片检测方法、芯片检测装置 [P].

吕智谋 ;

刘宁 ;

黄孟孟 .

中国专利 :CN118245311B ,2024-08-20

[4]

芯片检测方法、芯片检测装置 [P].

吕智谋 ;

刘宁 ;

黄孟孟 .

中国专利 :CN117632606A ,2024-03-01

[5]

一种芯片检测治具 [P].

张岩 ;

许宾宾 .

中国专利 :CN221303196U ,2024-07-09

[6]

芯片检测方法及芯片检测装置 [P].

周舰波 .

中国专利 :CN113075533B ,2021-07-06

[7]

芯片检测方法及芯片检测装置 [P].

周舰波 .

中国专利 :CN113075532A ,2021-07-06

[8]

芯片检测方法及芯片检测系统 [P].

王洲 ;

唐晓楠 ;

孙烨磊 ;

李慧清 ;

杨雷明 ;

杨威 ;

王春祥 ;

邰阳 ;

宋雨江 ;

巴宁 ;

韩亚 ;

徐彦卿 .

中国专利 :CN115629300A ,2023-01-20

[9]

芯片检测装置及芯片检测方法 [P].

高振凯 ;

魏福呈 .

中国专利 :CN118584294A ,2024-09-03

[10]

核酸检测芯片及检测方法 [P].

张立新 ;

王慧锋 ;

顾震 ;

刘光 ;

颜秉勇 ;

黄术强 ;

田晓丽 ;

黄高健 ;

刘家坤 ;

韩照晰 .

中国专利 :CN111704994A ,2020-09-25

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