半导体结构制作方法及半导体结构

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202011144602.6
申请日
2020-10-23
公开(公告)号
CN114496926B
公开(公告)日
2024-12-10
发明(设计)人
杨蕾
申请人
长鑫存储技术有限公司
申请人地址
230011 安徽省合肥市经济开发区空港工业园兴业大道388号
IPC主分类号
H10B12/00
IPC分类号
代理机构
代理人
法律状态
授权
国省代码
安徽省 宣城市
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共 50 条
[1]
半导体结构制作方法及半导体结构 [P]. 
杨蕾 .
中国专利 :CN114496926A ,2022-05-13
[2]
半导体结构制作方法及半导体结构 [P]. 
杨蒙蒙 ;
白杰 .
中国专利 :CN114765130A ,2022-07-19
[3]
半导体结构及半导体结构制作方法 [P]. 
王蒙蒙 ;
黄信斌 .
中国专利 :CN113035835B ,2021-06-25
[4]
半导体结构及半导体结构制作方法 [P]. 
马经纶 .
中国专利 :CN114446955B ,2024-11-01
[5]
半导体结构制作方法及半导体结构 [P]. 
曹新满 ;
刘忠明 ;
夏军 ;
白世杰 .
中国专利 :CN114725101A ,2022-07-08
[6]
半导体结构及半导体结构制作方法 [P]. 
马经纶 .
中国专利 :CN114446955A ,2022-05-06
[7]
半导体结构制作方法及半导体结构 [P]. 
邵波 ;
刘欣然 ;
王春阳 ;
孙玉乐 ;
李振兴 .
中国专利 :CN113053899A ,2021-06-29
[8]
半导体结构制作方法及半导体结构 [P]. 
白杰 ;
尤康 .
中国专利 :CN114765132A ,2022-07-19
[9]
半导体结构及半导体结构制作方法 [P]. 
刘志拯 .
中国专利 :CN115411034A ,2022-11-29
[10]
半导体结构的制作方法及半导体结构、半导体器件 [P]. 
杨国文 ;
刘育衔 .
中国专利 :CN112134142B ,2020-12-25