电阻测试电路及电阻测试方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202010434821.1

申请日：

2020-05-21

公开(公告)号：

CN113702710B

公开(公告)日：

2024-11-12

发明(设计)人：

周健

申请人：

圣邦微电子（北京）股份有限公司

申请人地址：

100089 北京市海淀区西三环北路87号13层3-1301

IPC主分类号：

G01R27/14

IPC分类号：

G01R1/30

代理机构：

北京成创同维知识产权代理有限公司 11449

代理人：

蔡纯;张靖琳

法律状态：

授权

国省代码：

北京市市辖区

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-11-12	授权	授权

共 50 条

[1]

电阻测试电路及电阻测试方法 [P].

周健 .

中国专利 :CN113702710A ,2021-11-26

[2]

电阻测试电路及电阻测试方法 [P].

周健 .

中国专利 :CN113702711B ,2024-11-12

[3]

电阻测试电路及电阻测试方法 [P].

周健 .

中国专利 :CN113702711A ,2021-11-26

[4]

电阻测试电路 [P].

刘金月 .

中国专利 :CN207601186U ,2018-07-10

[5]

电阻测试电路及系统 [P].

明志茂 ;

刘蓓辉 ;

潘健宁 ;

陈旭波 ;

周明霞 .

中国专利 :CN112816784A ,2021-05-18

[6]

电阻测试电路及系统 [P].

明志茂 ;

刘蓓辉 ;

潘健宁 ;

陈旭波 ;

周明霞 .

中国专利 :CN112816784B ,2024-07-19

[7]

电阻测试系统及电阻测试方法 [P].

黄臻妍 ;

王波 ;

李洋 .

中国专利 :CN120610096A ,2025-09-09

[8]

充电枪电阻测试电路及测试方法 [P].

曾志平 ;

雷晶晶 ;

钟海斌 ;

唐智 ;

刘家明 ;

王明旺 ;

王华文 .

中国专利 :CN112763807A ,2021-05-07

[9]

电阻测试电路和方法 [P].

李永立 ;

袁宝华 .

中国专利 :CN118897122A ,2024-11-05

[10]

电阻测试结构及电阻测试方法 [P].

赵东艳 ;

陈燕宁 ;

刘芳 ;

王泽楠 ;

汪海 ;

吴永玉 ;

吴波 ;

邓永峰 ;

李君建 ;

朱松超 .

中国专利 :CN119742300A ,2025-04-01

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