基于太赫兹信号的物体表面检测方法及系统

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202411180395.8

申请日：

2024-08-27

公开(公告)号：

CN119000597A

公开(公告)日：

2024-11-22

发明(设计)人：

张晓秋艳马琨唐福胡旻张卓铖许星星

申请人：

电子科技大学

申请人地址：

611731 四川省成都市高新区（西区）西源大道2006号

IPC主分类号：

G01N21/3581

IPC分类号：

G01N21/01

代理机构：

成都云纵知识产权代理事务所(普通合伙) 51316

代理人：

刘沙粒;伍星

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

江苏省常州市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-12-10	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01N 21/3581申请日:20240827
2024-11-22	公开	公开

共 50 条

[1]

物体表面形貌检测方法、物体表面形貌检测系统及装置 [P].

熊唯清 ;

许彬琪 ;

杨志 .

中国专利 :CN118687506A ,2024-09-24

[2]

物体表面瑕疵检测方法及系统 [P].

江浩 .

中国专利 :CN108088846A ,2018-05-29

[3]

基于太赫兹的物体检测方法 [P].

王跃东 ;

胡志富 ;

任玉兴 ;

何美林 ;

曹健 ;

刘亚男 ;

彭志农 .

中国专利 :CN112505798B ,2021-03-16

[4]

物体表面轮廓的检测方法 [P].

张璇 ;

戴磊 ;

吴光 .

中国专利 :CN110966953A ,2020-04-07

[5]

物体表面缺陷检测系统及检测方法 [P].

周波 ;

陈奕舜 ;

范伟华 .

中国专利 :CN110987970A ,2020-04-10

[6]

一种物体表面形状检测方法及检测系统 [P].

夏东 .

中国专利 :CN117589084A ,2024-02-23

[7]

物体表面检测装置、硅片检测装置及方法 [P].

汪晓波 .

中国专利 :CN111464132A ,2020-07-28

[8]

物体表面缺陷检测方法、装置 [P].

周才健 ;

周柔刚 ;

盛锦华 .

中国专利 :CN110349133B ,2019-10-18

[9]

一种物体表面缺陷检测方法及系统 [P].

杨戈 ;

张健 ;

丁润伟 .

中国专利 :CN115661097B ,2025-10-28

[10]

一种物体表面缺陷检测方法及系统 [P].

杨戈 ;

张健 ;

丁润伟 .

中国专利 :CN115661097A ,2023-01-31

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