一种基于视觉大模型的通用外观缺陷检测方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202411012668.8

申请日：

2024-07-26

公开(公告)号：

CN119107280A

公开(公告)日：

2024-12-10

发明(设计)人：

柳昌陈果

申请人：

上海羽视澄蓝信息科技有限公司

申请人地址：

200241 上海市闵行区东川路555号5号楼402E

IPC主分类号：

G06T7/00

IPC分类号：

G06N3/0455 G06N3/084 G06V10/82 G06V10/74

代理机构：

上海国瓴律师事务所 31363

代理人：

王喜坤

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

上海市市辖区

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-12-27	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G06T 7/00申请日:20240726
2024-12-10	公开	公开

共 50 条

[1]

一种基于视觉检测的耳机外观外壳外观缺陷检测方法 [P].

王立尚 ;

陈雪玲 .

中国专利 :CN120655596A ,2025-09-16

[2]

基于视觉语言大模型的通用缺陷检测方法、装置及设备 [P].

巴英豪 ;

祝一蒙 .

中国专利 :CN118261875A ,2024-06-28

[3]

一种基于随机缺陷模型的产品外观缺陷检测方法 [P].

胡志雄 .

中国专利 :CN112907543A ,2021-06-04

[4]

一种基于随机缺陷模型的产品外观缺陷检测方法 [P].

胡志雄 .

中国专利 :CN112907543B ,2024-03-26

[5]

基于多模态大模型的通用视觉关系识别检测方法 [P].

梁爽 ;

谢驰 ;

庄子鲲 ;

闫书玮 .

中国专利 :CN118552708A ,2024-08-27

[6]

一种基于视觉的图文缺陷检测方法 [P].

毛亮 ;

张立兴 ;

孟春婵 .

中国专利 :CN111650220B ,2020-09-11

[7]

一种基于机器视觉的工件外观缺陷检测方法 [P].

许海霞 ;

王伟 ;

周维 ;

朱江 ;

莫言 ;

印峰 ;

周帮 ;

王倪东 ;

彭思齐 ;

王仕果 .

中国专利 :CN106204614B ,2016-12-07

[8]

一种大视野半导体芯片外观缺陷检测方法 [P].

倪康 ;

吴倩倩 ;

邹旻瑞 ;

杨尚东 ;

蒋永新 ;

朱玉萍 ;

刘洪涛 .

中国专利 :CN116051515B ,2025-08-29

[9]

一种基于视觉的环形磁钢外观缺陷检测方法 [P].

张立兴 ;

毛亮 ;

孟春婵 .

中国专利 :CN111815600A ,2020-10-23

[10]

一种基于视觉的环形磁钢外观缺陷检测方法 [P].

张立兴 ;

毛亮 ;

孟春婵 .

中国专利 :CN111815600B ,2024-04-02

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