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基于交错并联boost电路的阻抗测量装置及其测量方法
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202210715189.7
申请日
:
2022-06-22
公开(公告)号
:
CN115085549B
公开(公告)日
:
2024-12-03
发明(设计)人
:
刘芙蓉
卢忠昌
谢长君
杨扬
朱文超
石英
杜帮华
申请人
:
武汉理工大学
申请人地址
:
430070 湖北省武汉市洪山区珞狮路122号
IPC主分类号
:
H02M3/158
IPC分类号
:
H02M1/14
G01R31/389
G01R31/378
代理机构
:
武汉开元知识产权代理有限公司 42104
代理人
:
刘琳
法律状态
:
授权
国省代码
:
湖北省 武汉市
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2024-12-03
授权
授权
共 50 条
[1]
基于交错并联boost电路的阻抗测量装置及其测量方法
[P].
刘芙蓉
论文数:
0
引用数:
0
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刘芙蓉
;
卢忠昌
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卢忠昌
;
谢长君
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谢长君
;
杨扬
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杨扬
;
朱文超
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朱文超
;
石英
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石英
;
杜帮华
论文数:
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0
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杜帮华
.
中国专利
:CN115085549A
,2022-09-20
[2]
呼吸阻抗测量装置及其测量方法、呼吸阻抗显示方法
[P].
黑泽一
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黑泽一
;
清水芳雄
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清水芳雄
;
保木敏明
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保木敏明
.
中国专利
:CN101959455B
,2011-01-26
[3]
互连结构阻抗测量电路、测量装置及测量方法
[P].
吴晓鹏
论文数:
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机构:
深圳市中兴微电子技术有限公司
深圳市中兴微电子技术有限公司
吴晓鹏
;
孙钮一
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机构:
深圳市中兴微电子技术有限公司
深圳市中兴微电子技术有限公司
孙钮一
;
杨丹
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机构:
深圳市中兴微电子技术有限公司
深圳市中兴微电子技术有限公司
杨丹
;
梅娜
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机构:
深圳市中兴微电子技术有限公司
深圳市中兴微电子技术有限公司
梅娜
;
孙拓北
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机构:
深圳市中兴微电子技术有限公司
深圳市中兴微电子技术有限公司
孙拓北
.
中国专利
:CN117368576A
,2024-01-09
[4]
多层电路板的阻抗测量装置及测量方法
[P].
曹磊磊
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机构:
重庆方正高密电子有限公司
重庆方正高密电子有限公司
曹磊磊
.
中国专利
:CN121231823A
,2025-12-30
[5]
电池阻抗测量电路及测量方法
[P].
J·P·M·范拉默林
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J·P·M·范拉默林
.
中国专利
:CN114252790A
,2022-03-29
[6]
电池阻抗测量电路及测量方法
[P].
J·P·M·范拉默林
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机构:
大唐恩智浦半导体有限公司
大唐恩智浦半导体有限公司
J·P·M·范拉默林
.
中国专利
:CN114252790B
,2025-04-18
[7]
阻抗测量装置、显示面板及接合阻抗的测量方法
[P].
张锡明
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0
张锡明
.
中国专利
:CN101571560B
,2009-11-04
[8]
对地阻抗测量电路、对地阻抗测量方法
[P].
李修连
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机构:
湖南小快智造电子科技有限公司
湖南小快智造电子科技有限公司
李修连
;
江世军
论文数:
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机构:
湖南小快智造电子科技有限公司
湖南小快智造电子科技有限公司
江世军
.
中国专利
:CN113820544B
,2024-07-26
[9]
层叠电池的阻抗测量装置和测量方法
[P].
酒井政信
论文数:
0
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酒井政信
.
中国专利
:CN105579855A
,2016-05-11
[10]
对地阻抗测量电路、对地阻抗测量方法
[P].
李修连
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李修连
;
江世军
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江世军
.
中国专利
:CN113820544A
,2021-12-21
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