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一种单片机测试装置和方法
被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202110611703.8
申请日：
2021-06-02
公开(公告)号：
CN113189972B
公开(公告)日：
2024-12-03
发明(设计)人：
张泽林
申请人：
无锡矽杰微电子有限公司
申请人地址：
214000 江苏省无锡市滨湖区建筑西路777号A1幢9层
IPC主分类号：
G05B23/02
IPC分类号：
代理机构：
无锡市汇诚永信专利代理事务所(普通合伙) 32260
代理人：
曹慧萍
法律状态：
授权
国省代码：
江苏省
无锡市
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2024-12-03 | 授权 | 授权 |