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基于多波段多光路的三维测量系统、方法和装置
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202411316421.5
申请日
:
2024-09-20
公开(公告)号
:
CN118836793B
公开(公告)日
:
2024-11-29
发明(设计)人
:
李彪
文永富
荆海龙
苏铭著
申请人
:
四川深瑞视科技有限公司
申请人地址
:
610041 四川省成都市武侯区武科西四路99号2栋4层403号
IPC主分类号
:
G01B11/25
IPC分类号
:
代理机构
:
广州三环专利商标代理有限公司 44202
代理人
:
王岩岩
法律状态
:
授权
国省代码
:
四川省 成都市
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2024-11-29
授权
授权
2024-10-25
公开
公开
2024-11-12
实质审查的生效
实质审查的生效IPC(主分类):G01B 11/25申请日:20240920
共 50 条
[1]
基于多波段多光路的三维测量系统、方法和装置
[P].
李彪
论文数:
0
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0
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0
机构:
四川深瑞视科技有限公司
四川深瑞视科技有限公司
李彪
;
文永富
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机构:
四川深瑞视科技有限公司
四川深瑞视科技有限公司
文永富
;
荆海龙
论文数:
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0
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机构:
四川深瑞视科技有限公司
四川深瑞视科技有限公司
荆海龙
;
苏铭著
论文数:
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0
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0
机构:
四川深瑞视科技有限公司
四川深瑞视科技有限公司
苏铭著
.
中国专利
:CN118836793A
,2024-10-25
[2]
基于共焦光路的三维测量系统和方法
[P].
邓俊涛
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0
邓俊涛
;
刘荣华
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刘荣华
;
郑增强
论文数:
0
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0
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0
郑增强
.
中国专利
:CN113358060B
,2021-09-07
[3]
一种多光路投影装置、三维测量系统及方法
[P].
黄长江
论文数:
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机构:
合肥埃科光电科技股份有限公司
合肥埃科光电科技股份有限公司
黄长江
;
张光宇
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机构:
合肥埃科光电科技股份有限公司
合肥埃科光电科技股份有限公司
张光宇
;
唐俊峰
论文数:
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机构:
合肥埃科光电科技股份有限公司
合肥埃科光电科技股份有限公司
唐俊峰
;
曹桂平
论文数:
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机构:
合肥埃科光电科技股份有限公司
合肥埃科光电科技股份有限公司
曹桂平
;
论文数:
引用数:
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机构:
董宁
.
中国专利
:CN115981073B
,2025-10-21
[4]
三维测量系统和三维测量方法
[P].
田村仁
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0
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田村仁
;
山形智生
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山形智生
;
栗原健人
论文数:
0
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0
栗原健人
;
外川阳一
论文数:
0
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0
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0
外川阳一
.
中国专利
:CN113330277B
,2021-08-31
[5]
一种基于多线结构光的三维测量系统
[P].
王世忱
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0
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0
王世忱
.
中国专利
:CN205014957U
,2016-02-03
[6]
跟踪式三维测量系统和三维测量方法
[P].
王江峰
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机构:
思看科技(杭州)股份有限公司
思看科技(杭州)股份有限公司
王江峰
;
王健宇
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机构:
思看科技(杭州)股份有限公司
思看科技(杭州)股份有限公司
王健宇
;
杨小福
论文数:
0
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机构:
思看科技(杭州)股份有限公司
思看科技(杭州)股份有限公司
杨小福
;
陈尚俭
论文数:
0
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机构:
思看科技(杭州)股份有限公司
思看科技(杭州)股份有限公司
陈尚俭
;
郑俊
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机构:
思看科技(杭州)股份有限公司
思看科技(杭州)股份有限公司
郑俊
.
中国专利
:CN117346681A
,2024-01-05
[7]
三维测量系统及三维测量方法
[P].
太田润
论文数:
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太田润
;
松本慎也
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松本慎也
;
木口哲也
论文数:
0
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0
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0
木口哲也
.
中国专利
:CN113748313A
,2021-12-03
[8]
三维测量系统与三维测量方法
[P].
余良彬
论文数:
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余良彬
;
林栋
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0
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0
林栋
.
中国专利
:CN103376071B
,2013-10-30
[9]
三维测量系统以及三维测量方法
[P].
大西康裕
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大西康裕
;
清水隆史
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清水隆史
;
松本慎也
论文数:
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0
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0
松本慎也
.
中国专利
:CN111566437A
,2020-08-21
[10]
一种基于发散型多线激光投影的三维测量系统及测量方法
[P].
李文国
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李文国
;
侯大猛
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侯大猛
;
毛雪忆
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毛雪忆
;
罗子欣
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罗子欣
.
中国专利
:CN112161574A
,2021-01-01
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