少なくとも１つの質量分析装置のパラメータ設定を最適化するための方法[ja]

被引：0

申请号：

JP20230535565

申请日：

2021-12-10

公开(公告)号：

JP2023553964A

公开(公告)日：

2023-12-26

发明(设计)人：

申请人：

申请人地址：

IPC主分类号：

G01N27/62

IPC分类号：

H01J49/00 H01J49/04 H01J49/42

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共 50 条

[1]

少なくとも１つの質量分析装置を較正するための方法[ja] [P].

日本专利 :JP7382508B2 ,2023-11-16

[2]

少なくとも１つの質量分析装置を較正するための方法[ja] [P].

日本专利 :JP2023506900A ,2023-02-20

[3]

試料中の少なくとも１つの分析物を検出するための分析装置[ja] [P].

日本专利 :JP6059244B2 ,2017-01-11

[4]

試料中の少なくとも１つの分析物を検出するための分析装置[ja] [P].

日本专利 :JP2014533106A ,2014-12-11

[5]

試料中の少なくとも１つの分析物を検出するための方法[ja] [P].

日本专利 :JP2024526148A ,2024-07-17

[6]

少なくとも１つのクロマトグラムにおける少なくとも１つの干渉および／または少なくとも１つのアーチファクトを検出するためのコンピュータ実装方法[ja] [P].

日本专利 :JP2023541926A ,2023-10-04

[7]

複数の反復ハードウェア構成要素を有する少なくとも１つの分析装置を較正するための方法[ja] [P].

日本专利 :JP2023506285A ,2023-02-15

[8]

複数の反復ハードウェア構成要素を有する少なくとも１つの分析装置を較正するための方法[ja] [P].

日本专利 :JP7583812B2 ,2024-11-14

[9]

質量分析応答曲線における少なくとも１つのピークを識別するためのコンピュータによって実行される方法[ja] [P].

日本专利 :JP2023518353A ,2023-05-01

[10]

質量分析装置を用いたももの検出方法[ja] [P].

日本专利 :JP2025146566A ,2025-10-03

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