散射测量方法及散射测量装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202410917499.6

申请日：

2024-07-10

公开(公告)号：

CN118464843B

公开(公告)日：

2024-11-15

发明(设计)人：

邹峥贺军吴乐忠

申请人：

杭州积海半导体有限公司

申请人地址：

311225 浙江省杭州市钱塘新区义蓬街道江东大道3899号709-7号

IPC主分类号：

G01N21/47

IPC分类号：

G01N21/01 G01B11/22 G01B11/24 G01B11/08

代理机构：

上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237

代理人：

宋艳

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-08-27	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01N 21/47申请日:20240710
2024-08-09	公开	公开
2024-11-15	授权	授权

共 50 条

[1]

散射测量方法及散射测量装置 [P].

邹峥 ;

贺军 ;

吴乐忠 .

中国专利 :CN118464843A ,2024-08-09

[2]

一种散射测量装置及散射测量方法 [P].

周钰颖 .

中国专利 :CN113124751B ,2021-07-16

[3]

一种散射测量装置及散射测量方法 [P].

周钰颖 ;

王帆 .

中国专利 :CN112764317A ,2021-05-07

[4]

散射角测量装置和散射角测量方法 [P].

蒋鹏 ;

任新东 ;

郭子成 .

中国专利 :CN109073549A ,2018-12-21

[5]

动态偏振光散射颗粒测量装置及测量方法 [P].

杨晖 ;

郑刚 ;

戴曙光 .

中国专利 :CN101699265A ,2010-04-28

[6]

散射补偿方法和散射测量方法 [P].

贯井正健 .

中国专利 :CN100563572C ,2006-10-18

[7]

散射光测量方法 [P].

K.施滕格尔 ;

G.哈加 ;

M.诺伊恩多夫 ;

R.西格 .

中国专利 :CN103026201B ,2013-04-03

[8]

一种液体散射测量装置及其测量方法 [P].

甘海勇 ;

吴厚平 ;

刘子龙 ;

冯国进 ;

赫英威 ;

徐楠 ;

林延东 .

中国专利 :CN109540844B ,2019-03-29

[9]

一种粒子散射相函数测量装置及测量方法 [P].

赵军明 ;

李兴灿 ;

刘林华 .

中国专利 :CN107345893B ,2017-11-14

[10]

材料散射特性测量装置及方法 [P].

杨晓青 ;

王帆 .

中国专利 :CN105651733B ,2016-06-08

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