物理量评价装置及物理量评价方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202410592719.2

申请日：

2024-05-14

公开(公告)号：

CN119000531A

公开(公告)日：

2024-11-22

发明(设计)人：

折原秀治折原芳男稻叶诚二大神聪司

申请人：

AGC株式会社折原制作所有限公司

申请人地址：

日本

IPC主分类号：

G01N21/01

IPC分类号：

G01N21/65

代理机构：

中原信达知识产权代理有限责任公司 11219

代理人：

杨青;安翔

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-11-22	公开	公开

共 50 条

[1]

物理量采集电路及物理量采集方法 [P].

何志浩 ;

杨英振 ;

赵丰绩 ;

周成龙 ;

刘振喆 .

中国专利 :CN120947698A ,2025-11-14

[2]

物理量测量装置及物理量测量方法 [P].

林圣人 .

中国专利 :CN102564631A ,2012-07-11

[3]

物理量检测元件以及物理量检测装置 [P].

中根健智 ;

羽迫义浩 ;

岛津侑宜 .

中国专利 :CN104122015A ,2014-10-29

[4]

物理量测量装置以及物理量测量方法 [P].

北浦崇弘 ;

御子柴宪彦 .

中国专利 :CN104081161B ,2014-10-01

[5]

物理量传感器及物理量检测装置 [P].

大户正之 ;

佐藤健太 .

日本专利 :CN120820186A ,2025-10-21

[6]

物理量测量装置以及物理量测量方法 [P].

北村彻 ;

御子柴宪彦 .

中国专利 :CN102224394A ,2011-10-19

[7]

物理量测量装置以及物理量测量方法 [P].

山下昌哉 ;

北村彻 .

中国专利 :CN101680760A ,2010-03-24

[8]

物理量接收装置、物理量供应装置和物理量接收方法 [P].

佐古曜一郎 ;

和城贤典 ;

芹田和俊 .

中国专利 :CN103578197A ,2014-02-12

[9]

物理量检测装置的制造方法以及物理量检测装置 [P].

佐佐木奖悟 .

日本专利 :CN120194672A ,2025-06-24

[10]

物理量测定装置、物理量测定方法 [P].

大岛明浩 ;

浓野友人 .

中国专利 :CN103427828B ,2013-12-04

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