基于ZYNQ的电容层析成像系统及方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202410997739.8

申请日：

2024-07-24

公开(公告)号：

CN118941666A

公开(公告)日：

2024-11-12

发明(设计)人：

沈义俊彭甫森李萌杜燕连阮荣倩符孟帝韩烜赫朱井育韩雨彤

申请人：

海南大学

申请人地址：

570100 海南省海口市人民大道58号

IPC主分类号：

G06T11/00

IPC分类号：

G01N27/24 G01N27/22 G06T1/60 H03M1/12

代理机构：

苏州中合知识产权代理事务所(普通合伙) 32266

代理人：

景晓玲

法律状态：

授权

国省代码：

海南省海口市

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-04-25	授权	授权
2024-11-12	公开	公开
2024-11-29	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G06T 11/00申请日:20240724

共 50 条

[1]

基于ZYNQ的电容层析成像系统及方法 [P].

沈义俊 ;

彭甫森 ;

李萌 ;

杜燕连 ;

阮荣倩 ;

符孟帝 ;

韩烜赫 ;

朱井育 ;

韩雨彤 .

中国专利 :CN118941666B ,2025-04-25

[2]

一种电容层析成像系统 [P].

李轶 ;

黄晓清 .

中国专利 :CN209231255U ,2019-08-09

[3]

基于STM32单片机的电容层析成像系统 [P].

李超 ;

孙峻涛 ;

黄国兴 ;

卢为党 ;

彭宏 ;

张昱 ;

徐禺昕 .

中国专利 :CN115629109A ,2023-01-20

[4]

一种平面式的电容层析成像系统及检测方法 [P].

萧鹏 ;

史倩竹 ;

丁雨谢 ;

殷丽娟 .

中国专利 :CN110514703A ,2019-11-29

[5]

电容层析成像电容测量系统 [P].

王保良 ;

黄志尧 ;

李海青 .

中国专利 :CN1378080A ,2002-11-06

[6]

一种电容层析成像系统 [P].

张茂懋 ;

伍国柱 ;

黄晓晴 ;

卢晓东 .

中国专利 :CN209624459U ,2019-11-12

[7]

一种用于电容层析成像系统的电容测量电路 [P].

许亚夫 .

中国专利 :CN106771642A ,2017-05-31

[8]

一种电容层析成像系统及其成像方法 [P].

张立峰 ;

宋亚杰 .

中国专利 :CN107764873A ,2018-03-06

[9]

基于二级控制64极板密集型平面阵列的电容层析成像系统 [P].

曹蕊 ;

田汉民 ;

马旭蕾 .

中国专利 :CN119322100A ,2025-01-17

[10]

电容层析成像传感器及系统 [P].

孟霜鹤 ;

叶茂 ;

黄凯 ;

刘中民 .

中国专利 :CN111175354B ,2020-05-19

← 1 2 3 4 5 →