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一种基于无监督学习的外观缺陷检测方法
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202411205314.5
申请日
:
2024-08-30
公开(公告)号
:
CN119107308A
公开(公告)日
:
2024-12-10
发明(设计)人
:
徐信罗
肖高博
骆韬
李晓刚
杨智慧
申请人
:
珠海博韬科技有限公司
申请人地址
:
519000 广东省珠海市香洲区福田路10号厂房1一层-6
IPC主分类号
:
G06T7/00
IPC分类号
:
G06T5/70
G06N3/0464
G06V10/774
G06V10/40
代理机构
:
广州市红荔专利代理有限公司 44214
代理人
:
王贤义
法律状态
:
公开
国省代码
:
广东省 珠海市
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2024-12-10
公开
公开
2024-12-27
实质审查的生效
实质审查的生效IPC(主分类):G06T 7/00申请日:20240830
共 50 条
[1]
一种基于无监督学习的MicroLED缺陷检测方法
[P].
周佳
论文数:
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周佳
;
潘彤
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潘彤
;
郭震撼
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郭震撼
;
曹晖
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曹晖
;
袁廷翼
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袁廷翼
;
王杨杨
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王杨杨
;
夏天
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夏天
;
鲍涛
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鲍涛
.
中国专利
:CN114511516A
,2022-05-17
[2]
基于无监督学习的缺陷检测方法及设备
[P].
曾利宏
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机构:
深圳市华汉伟业科技有限公司
深圳市华汉伟业科技有限公司
曾利宏
;
李杰明
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机构:
深圳市华汉伟业科技有限公司
深圳市华汉伟业科技有限公司
李杰明
;
杨洋
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机构:
深圳市华汉伟业科技有限公司
深圳市华汉伟业科技有限公司
杨洋
;
黄涛
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机构:
深圳市华汉伟业科技有限公司
深圳市华汉伟业科技有限公司
黄涛
;
吴创廷
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机构:
深圳市华汉伟业科技有限公司
深圳市华汉伟业科技有限公司
吴创廷
.
中国专利
:CN114862838B
,2024-11-26
[3]
基于无监督学习的缺陷检测方法及设备
[P].
曾利宏
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曾利宏
;
李杰明
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李杰明
;
杨洋
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杨洋
;
黄涛
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黄涛
;
吴创廷
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吴创廷
.
中国专利
:CN114862838A
,2022-08-05
[4]
一种基于无监督学习算法的轴承外侧面缺陷检测方法
[P].
张一康
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机构:
浙江理工大学
浙江理工大学
张一康
;
梁诗钧
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机构:
浙江理工大学
浙江理工大学
梁诗钧
;
李家乐
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机构:
浙江理工大学
浙江理工大学
李家乐
;
李俊峰
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机构:
浙江理工大学
浙江理工大学
李俊峰
;
潘海鹏
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机构:
浙江理工大学
浙江理工大学
潘海鹏
.
中国专利
:CN119067948A
,2024-12-03
[5]
基于无监督学习的芯片X射线图像缺陷检测方法
[P].
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机构:
杨夏
;
柏昊宇
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机构:
中山大学
中山大学
柏昊宇
;
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机构:
王杰
;
李高敏
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机构:
中山大学
中山大学
李高敏
;
袁桂鑫
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机构:
中山大学
中山大学
袁桂鑫
;
论文数:
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机构:
张小虎
.
中国专利
:CN118505635A
,2024-08-16
[6]
基于无监督学习的缺陷检测系统及方法
[P].
钟羽中
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钟羽中
;
张乃雪
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张乃雪
;
朱磊
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朱磊
;
赵涛
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赵涛
;
佃松宜
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佃松宜
.
中国专利
:CN114155186A
,2022-03-08
[7]
一种基于无监督学习的路面异常检测方法及系统
[P].
李继凯
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李继凯
.
中国专利
:CN114663742B
,2022-06-24
[8]
基于无监督学习的诈骗呼叫序列检测方法
[P].
万辛
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万辛
;
刘冠男
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刘冠男
;
林浩
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林浩
;
张亮
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张亮
;
吴俊杰
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吴俊杰
;
安茂波
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安茂波
;
李鹏
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李鹏
;
沈亮
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沈亮
;
高圣翔
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高圣翔
.
中国专利
:CN110059889A
,2019-07-26
[9]
一种基于无监督学习的芯片缺陷检测方法及其评估方法
[P].
陈昌林
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机构:
合肥工业大学
合肥工业大学
陈昌林
;
刘若珊
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机构:
合肥工业大学
合肥工业大学
刘若珊
;
吴子立
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机构:
合肥工业大学
合肥工业大学
吴子立
;
张嘉名
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机构:
合肥工业大学
合肥工业大学
张嘉名
;
论文数:
引用数:
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机构:
宋仁成
.
中国专利
:CN117474868A
,2024-01-30
[10]
基于无监督学习深度学习网络的中文检测方法及系统
[P].
周异
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周异
;
陈凯
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陈凯
;
周曲
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周曲
;
任逍航
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任逍航
.
中国专利
:CN105469047B
,2016-04-06
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