一种基于无监督学习的外观缺陷检测方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202411205314.5
申请日
2024-08-30
公开(公告)号
CN119107308A
公开(公告)日
2024-12-10
发明(设计)人
徐信罗 肖高博 骆韬 李晓刚 杨智慧
申请人
珠海博韬科技有限公司
申请人地址
519000 广东省珠海市香洲区福田路10号厂房1一层-6
IPC主分类号
G06T7/00
IPC分类号
G06T5/70 G06N3/0464 G06V10/774 G06V10/40
代理机构
广州市红荔专利代理有限公司 44214
代理人
王贤义
法律状态
公开
国省代码
广东省 珠海市
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共 50 条
[1]
一种基于无监督学习的MicroLED缺陷检测方法 [P]. 
周佳 ;
潘彤 ;
郭震撼 ;
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[2]
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李杰明 ;
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黄涛 ;
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[3]
基于无监督学习的缺陷检测方法及设备 [P]. 
曾利宏 ;
李杰明 ;
杨洋 ;
黄涛 ;
吴创廷 .
中国专利 :CN114862838A ,2022-08-05
[4]
一种基于无监督学习算法的轴承外侧面缺陷检测方法 [P]. 
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梁诗钧 ;
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[5]
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王杰 ;
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袁桂鑫 ;
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[6]
基于无监督学习的缺陷检测系统及方法 [P]. 
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[7]
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[8]
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刘冠男 ;
林浩 ;
张亮 ;
吴俊杰 ;
安茂波 ;
李鹏 ;
沈亮 ;
高圣翔 .
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[9]
一种基于无监督学习的芯片缺陷检测方法及其评估方法 [P]. 
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刘若珊 ;
吴子立 ;
张嘉名 ;
宋仁成 .
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[10]
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周异 ;
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