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基于单能X射线的电离室能量响应测量方法及系统
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202410863464.9
申请日
:
2024-06-29
公开(公告)号
:
CN118818589A
公开(公告)日
:
2024-10-22
发明(设计)人
:
郭思明
李知微
王振
申请人
:
中国计量科学研究院
申请人地址
:
100020 北京市朝阳区北三环东路18号
IPC主分类号
:
G01T7/00
IPC分类号
:
G01T1/185
代理机构
:
深圳市汉瑞知识产权代理事务所(普通合伙) 44766
代理人
:
李航
法律状态
:
实质审查的生效
国省代码
:
北京市 市辖区
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2024-11-08
实质审查的生效
实质审查的生效IPC(主分类):G01T 7/00申请日:20240629
2024-10-22
公开
公开
共 50 条
[1]
电离室型双能X射线探测器
[P].
葛学海
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葛学海
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白云飞
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白云飞
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陈鹏
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陈鹏
;
张立功
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张立功
;
张广超
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张广超
.
中国专利
:CN206321588U
,2017-07-11
[2]
自由空气电离室及空气比释动能测量方法
[P].
王继
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王继
;
李若楠
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李若楠
;
王培玮
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王培玮
;
郭思明
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郭思明
.
中国专利
:CN111487662B
,2020-08-04
[3]
角响应均匀的能量补偿型高压电离室
[P].
董翀
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董翀
;
沈杨
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沈杨
;
卢亚鑫
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卢亚鑫
.
中国专利
:CN209014738U
,2019-06-21
[4]
X射线能量的平场图像测量方法
[P].
宋顾周
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宋顾周
;
段宝军
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段宝军
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黑东炜
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黑东炜
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马继明
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马继明
;
韩长材
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韩长材
.
中国专利
:CN104931997B
,2015-09-23
[5]
基于X射线能量扫描的两相错配度的测量方法
[P].
陈凯
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陈凯
;
寇嘉伟
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寇嘉伟
;
沈昊
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沈昊
;
朱文欣
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朱文欣
.
中国专利
:CN110658221B
,2020-01-07
[6]
基于X射线的在线面密度测量方法及装置
[P].
彭智
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彭智
;
严上奇
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严上奇
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彭建
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彭建
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严循东
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严循东
.
中国专利
:CN115372200A
,2022-11-22
[7]
一种电离室传感器及其测量方法
[P].
海建中
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海建中
;
何寻社
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何寻社
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赵江斌
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赵江斌
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高攀
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高攀
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曲锐
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曲锐
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刘辉
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刘辉
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侯彦辉
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侯彦辉
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刘朋波
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刘朋波
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陈禹轩
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陈禹轩
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薛超
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薛超
;
陈浩涵
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陈浩涵
.
中国专利
:CN115356547A
,2022-11-18
[8]
一种宽量程复合电离室及其测量方法
[P].
曲广卫
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曲广卫
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海建中
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海建中
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赵江斌
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赵江斌
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刘辉
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刘辉
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曲锐
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曲锐
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靳磊
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靳磊
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张祥林
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张祥林
.
中国专利
:CN115356546A
,2022-11-18
[9]
基于软性X射线散射测量的叠对测量方法及系统
[P].
A·V·舒杰葛洛夫
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科磊股份有限公司
科磊股份有限公司
A·V·舒杰葛洛夫
;
N·古特曼
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科磊股份有限公司
科磊股份有限公司
N·古特曼
;
A·库兹涅佐夫
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科磊股份有限公司
科磊股份有限公司
A·库兹涅佐夫
;
A·吉里纽
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机构:
科磊股份有限公司
科磊股份有限公司
A·吉里纽
.
美国专利
:CN114981686B
,2025-10-24
[10]
一种球形充压电离室探测器及其测量方法
[P].
何寻社
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何寻社
;
刘辉
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刘辉
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赵江斌
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赵江斌
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海建中
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海建中
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曲锐
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曲锐
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侯彦辉
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侯彦辉
;
高攀
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高攀
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中国专利
:CN115373012A
,2022-11-22
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