设备测试方法、设备测试装置、电子设备和存储介质

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202411088296.7
申请日
2024-08-08
公开(公告)号
CN119003304A
公开(公告)日
2024-11-22
发明(设计)人
王哲夫 李航
申请人
阿里巴巴(中国)有限公司
申请人地址
310052 浙江省杭州市滨江区长河街道网商路699号4号楼5楼508室
IPC主分类号
G06F11/34
IPC分类号
代理机构
北京睿派知识产权代理有限公司 11597
代理人
刘锋
法律状态
实质审查的生效
国省代码
浙江省 杭州市
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共 50 条
[1]
测试方法、测试装置、电子设备和存储介质 [P]. 
夏仕钦 .
中国专利 :CN118051422A ,2024-05-17
[2]
充电设备测试方法、测试装置、电子设备和可读存储介质 [P]. 
唐昊 ;
蔡利豪 .
中国专利 :CN118244025A ,2024-06-25
[3]
测试方法、测试装置、电子设备和可读存储介质 [P]. 
孔军 ;
王超 ;
廖伟达 .
中国专利 :CN111782497A ,2020-10-16
[4]
测试方法、测试装置、电子设备及存储介质 [P]. 
水洋为 ;
唐苗苗 ;
孙铭鸿 .
中国专利 :CN120631754A ,2025-09-12
[5]
测试方法、测试装置、电子设备及存储介质 [P]. 
王越 ;
王欣 ;
李佩刚 ;
苏畅 ;
周荣林 ;
高建瓴 .
中国专利 :CN113220597B ,2024-04-16
[6]
测试方法、测试装置、电子设备及存储介质 [P]. 
张珺 ;
农华莲 ;
韩照光 .
中国专利 :CN113297088A ,2021-08-24
[7]
测试方法、测试装置、电子设备及存储介质 [P]. 
王越 ;
王欣 ;
李佩刚 ;
苏畅 ;
周荣林 ;
高建瓴 .
中国专利 :CN113220597A ,2021-08-06
[8]
测试方法、测试装置、电子设备及存储介质 [P]. 
赵建秀 .
中国专利 :CN113190456B ,2024-03-26
[9]
测试方法、测试装置、电子设备及存储介质 [P]. 
赵建秀 .
中国专利 :CN113190456A ,2021-07-30
[10]
测试方法、测试装置、存储介质及电子设备 [P]. 
刘孙春 .
中国专利 :CN118694840A ,2024-09-24