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寸法測定装置、寸法測定システム及び寸法測定方法[ja]
被引:0
申请号
:
JP20200014068
申请日
:
2020-01-30
公开(公告)号
:
JP7408423B2
公开(公告)日
:
2024-01-05
发明(设计)人
:
申请人
:
申请人地址
:
IPC主分类号
:
G01B11/02
IPC分类号
:
代理机构
:
代理人
:
法律状态
:
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
共 50 条
[1]
寸法測定装置、寸法測定システム、及び、寸法測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6777079B2
,2020-10-28
[2]
寸法測定装置、寸法測定システム、及び、寸法測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2017013873A1
,2018-05-10
[3]
寸法測定システム及び寸法測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP7141383B2
,2022-09-22
[4]
寸法測定装置及び寸法測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6799232B2
,2020-12-16
[5]
寸法測定装置、及び寸法測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6155924B2
,2017-07-05
[6]
寸法測定装置及び寸法測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6417691B2
,2018-11-07
[7]
寸法測定プログラム、寸法測定装置、及び、寸法測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6176598B2
,2017-08-09
[8]
寸法測定システムおよび寸法測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP7510653B1
,2024-07-04
[9]
寸法測定装置、切削工具システム、寸法測定方法[ja]
[P].
ABE TARO
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
MITSUBISHI MATERIALS CORP
MITSUBISHI MATERIALS CORP
ABE TARO
;
TAKAHASHI WATARU
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
MITSUBISHI MATERIALS CORP
MITSUBISHI MATERIALS CORP
TAKAHASHI WATARU
.
日本专利
:JP2025089184A
,2025-06-12
[10]
寸法測定装置および寸法測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2016199366A1
,2018-04-05
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