数据库性能测试方法、装置、设备及存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202411391417.5

申请日：

2024-10-08

公开(公告)号：

CN118916256A

公开(公告)日：

2024-11-08

发明(设计)人：

王晓丽

申请人：

天津南大通用数据技术股份有限公司

申请人地址：

300392 天津市滨海新区华苑产业区工华道2号天百中心裙房第三层

IPC主分类号：

G06F11/34

IPC分类号：

代理机构：

中科专利商标代理有限责任公司 11021

代理人：

郭梦雅

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-11-08	公开	公开
2025-08-29	发明专利申请公布后的驳回	发明专利申请公布后的驳回IPC(主分类):G06F 11/34申请公布日:20241108
2024-11-26	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G06F 11/34申请日:20241008

共 50 条

[1]

数据库性能测试方法、系统、设备及存储介质 [P].

史露强 ;

王晓征 ;

潘宇虹 ;

郭岳 ;

钟储建 ;

王淼鑫 .

中国专利 :CN118820028A ,2024-10-22

[2]

数据库性能测试方法、设备及存储介质 [P].

陈荣耀 .

中国专利 :CN114691460A ,2022-07-01

[3]

数据库测试方法、装置、存储介质及电子设备 [P].

侯存宁 .

中国专利 :CN111008123A ,2020-04-14

[4]

数据库测试方法及装置、设备、存储介质和程序产品 [P].

肖安武 ;

杨蔚 .

中国专利 :CN119248579B ,2025-03-07

[5]

数据库测试方法及装置、设备、存储介质和程序产品 [P].

肖安武 ;

杨蔚 .

中国专利 :CN119248579A ,2025-01-03

[6]

数据库测试方法、装置、终端设备及存储介质 [P].

吴伟明 .

中国专利 :CN111309596B ,2025-08-19

[7]

数据库测试方法、装置、终端设备及存储介质 [P].

吴伟明 .

中国专利 :CN111309596A ,2020-06-19

[8]

数据库监测系统的性能测试方法、装置、设备及介质 [P].

吴哲琼 .

中国专利 :CN117331797A ,2024-01-02

[9]

一种数据库的性能测试方法、电子设备和存储介质 [P].

陈明坤 .

中国专利 :CN117632734A ,2024-03-01

[10]

内存数据库的性能测试方法、装置、设备及可读存储介质 [P].

刘兵 .

中国专利 :CN110795319A ,2020-02-14

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