一种发光装置、发光方法、检测设备及检测方法

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专利类型
发明
申请号
CN202411057430.7
申请日
2024-08-02
公开(公告)号
CN118937337A
公开(公告)日
2024-11-12
发明(设计)人
王奇 吴昌力
申请人
聚时科技(上海)有限公司
申请人地址
201100 上海市闵行区申滨南路1126号龙湖天街C栋801室
IPC主分类号
G01N21/88
IPC分类号
代理机构
代理人
法律状态
公开
国省代码
上海市 市辖区
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共 50 条
[1]
发光装置、发光方法及电池检测设备 [P]. 
陈槐 ;
陈飞 ;
李江涛 ;
张宇航 .
中国专利 :CN117405685A ,2024-01-16
[2]
发光装置、检测方法、检测设备 [P]. 
陈鲁 ;
黄有为 ;
张龙 ;
张嵩 .
中国专利 :CN113125456A ,2021-07-16
[3]
发光装置、检测方法、检测设备 [P]. 
陈鲁 ;
黄有为 ;
张龙 ;
张嵩 .
中国专利 :CN113125456B ,2024-12-03
[4]
一种终端设备长发光检测装置及检测方法 [P]. 
谢车 .
中国专利 :CN103269248A ,2013-08-28
[5]
发光元件检测方法及设备 [P]. 
吴秉颖 ;
刘永钦 ;
黄炫乔 .
中国专利 :CN112993739A ,2021-06-18
[6]
发光模块的检测设备及检测方法 [P]. 
魏志宏 ;
吴明昌 ;
许志扬 ;
吴智龙 ;
郑丁元 .
中国专利 :CN101852674A ,2010-10-06
[7]
发光装置及检测设备 [P]. 
杨乐 ;
高娟娟 ;
陈鲁 ;
张嵩 .
中国专利 :CN217155793U ,2022-08-09
[8]
一种发光设备检测方法及系统 [P]. 
牛杰 ;
宋艳枝 .
中国专利 :CN120558537A ,2025-08-29
[9]
一种发光设备检测方法及系统 [P]. 
牛杰 ;
宋艳枝 .
中国专利 :CN120558537B ,2025-10-10
[10]
发光芯片检测装置及发光芯片检测方法 [P]. 
陈哲 ;
林浩翔 ;
萧俊龙 .
中国专利 :CN118057187A ,2024-05-21