一种温度环境自适应的红外焦平面温漂校正方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202411547322.8

申请日：

2024-11-01

公开(公告)号：

CN119052665A

公开(公告)日：

2024-11-29

发明(设计)人：

林道庆孙国强

申请人：

武汉多谱多勒科技有限公司

申请人地址：

430000 湖北省武汉市武汉东湖新技术开发区汤逊湖北路武汉长城创新科技园1栋标准厂房A栋5楼510室

IPC主分类号：

H04N25/21

IPC分类号：

H04N25/67 H04N25/53

代理机构：

武汉领君知识产权代理事务所(普通合伙) 42248

代理人：

汪俊锋

法律状态：

公开

国省代码：

河北省石家庄市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-11-29	公开	公开
2024-12-17	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):H04N 25/21申请日:20241101

共 50 条

[1]

一种长时稳定的红外焦平面温漂自适应校正方法 [P].

刘伟 ;

李世龙 ;

郭得福 ;

陈继铭 ;

段程鹏 .

中国专利 :CN117750228A ,2024-03-22

[2]

基于像素点温漂估计的红外焦平面非均匀性校正方法 [P].

贺明 ;

杨杰 .

中国专利 :CN111998961A ,2020-11-27

[3]

基于总变分的自适应红外焦平面非均匀性校正方法 [P].

陈钱 ;

任建乐 ;

顾国华 ;

钱惟贤 ;

路东明 ;

隋修宝 ;

何伟基 ;

任侃 ;

张闻文 ;

于雪莲 ;

李宏哲 ;

毛晨 .

中国专利 :CN102778296A ,2012-11-14

[4]

一种非制冷红外焦平面的自适应非均匀校正方法 [P].

贺明 .

中国专利 :CN111932478A ,2020-11-13

[5]

一种短波红外焦平面自适应非均匀校正算法 [P].

周津同 .

中国专利 :CN108225570A ,2018-06-29

[6]

一种红外焦平面非均匀性校正方法 [P].

陈忻 ;

赵云峰 ;

饶鹏 ;

夏晖 ;

韩冰 .

中国专利 :CN108519161A ,2018-09-11

[7]

一种去除温漂的红外非均匀性校正方法 [P].

刘子骥 ;

蒋亚东 ;

王然 ;

姜宇鹏 ;

袁凯 .

中国专利 :CN102042878A ,2011-05-04

[8]

凝视红外焦平面探测器自适应非均匀性校正方法 [P].

刘传明 ;

吴诚 ;

苏俊波 ;

苏兰 ;

陈吕吉 .

中国专利 :CN1811360A ,2006-08-02

[9]

一种红外焦平面的多点校正方法及系统 [P].

马兆峰 ;

黄星明 ;

李晶 .

中国专利 :CN104580894A ,2015-04-29

[10]

一种短波红外焦平面自适应非均匀校正算法 [P].

周津同 .

中国专利 :CN108225571A ,2018-06-29

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