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用于测试环境传感器的测试系统和用于测试环境传感器的方法
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202410527653.9
申请日
:
2024-04-29
公开(公告)号
:
CN118960812A
公开(公告)日
:
2024-11-15
发明(设计)人
:
J·施密特
T·菲什
B·施特林
申请人
:
德斯拜思有限公司
申请人地址
:
德国
IPC主分类号
:
G01D18/00
IPC分类号
:
G01S7/40
G01S7/497
G01S7/52
G01C25/00
代理机构
:
中国贸促会专利商标事务所有限公司 11038
代理人
:
刘盈
法律状态
:
实质审查的生效
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2025-05-27
实质审查的生效
实质审查的生效IPC(主分类):G01D 18/00申请日:20240429
2024-11-15
公开
公开
共 50 条
[1]
环境传感器测试装置、用于环境传感器的测试系统和用于运行环境传感器测试装置的方法
[P].
N·朗格
论文数:
0
引用数:
0
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机构:
德斯拜思有限公司
德斯拜思有限公司
N·朗格
.
德国专利
:CN120522653A
,2025-08-22
[2]
传感器的测试方法以及环境测试系统
[P].
陈高飞
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机构:
北京康斯特仪表科技股份有限公司
北京康斯特仪表科技股份有限公司
陈高飞
;
张娟
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机构:
北京康斯特仪表科技股份有限公司
北京康斯特仪表科技股份有限公司
张娟
;
杨华
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机构:
北京康斯特仪表科技股份有限公司
北京康斯特仪表科技股份有限公司
杨华
;
廉王龙
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机构:
北京康斯特仪表科技股份有限公司
北京康斯特仪表科技股份有限公司
廉王龙
;
赵洁
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机构:
北京康斯特仪表科技股份有限公司
北京康斯特仪表科技股份有限公司
赵洁
;
陈国刚
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机构:
北京康斯特仪表科技股份有限公司
北京康斯特仪表科技股份有限公司
陈国刚
;
刘丽红
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机构:
北京康斯特仪表科技股份有限公司
北京康斯特仪表科技股份有限公司
刘丽红
;
万全寿
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机构:
北京康斯特仪表科技股份有限公司
北京康斯特仪表科技股份有限公司
万全寿
;
尹兴智
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机构:
北京康斯特仪表科技股份有限公司
北京康斯特仪表科技股份有限公司
尹兴智
;
朱振宇
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机构:
北京康斯特仪表科技股份有限公司
北京康斯特仪表科技股份有限公司
朱振宇
;
金娟
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机构:
北京康斯特仪表科技股份有限公司
北京康斯特仪表科技股份有限公司
金娟
;
金丽莉
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机构:
北京康斯特仪表科技股份有限公司
北京康斯特仪表科技股份有限公司
金丽莉
.
中国专利
:CN117928624A
,2024-04-26
[3]
环境传感器测试方法
[P].
S·J·斯黛茜
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S·J·斯黛茜
;
K·莱蒂斯
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K·莱蒂斯
;
M·高维特
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M·高维特
.
中国专利
:CN108780077B
,2018-11-09
[4]
环境传感器和用于运行环境传感器的方法
[P].
D·斯洛格斯纳特
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机构:
罗伯特·博世有限公司
罗伯特·博世有限公司
D·斯洛格斯纳特
;
M·穆萨奇
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机构:
罗伯特·博世有限公司
罗伯特·博世有限公司
M·穆萨奇
;
J·克罗伊策
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机构:
罗伯特·博世有限公司
罗伯特·博世有限公司
J·克罗伊策
;
M·S·桑托罗
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机构:
罗伯特·博世有限公司
罗伯特·博世有限公司
M·S·桑托罗
;
D·坦格雷迪
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机构:
罗伯特·博世有限公司
罗伯特·博世有限公司
D·坦格雷迪
.
德国专利
:CN118829862A
,2024-10-22
[5]
环境传感器、环境传感器中间产品和用于制造多个环境传感器的方法
[P].
M·克瑙斯
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M·克瑙斯
;
D·豪格
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D·豪格
;
T·亨
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T·亨
.
中国专利
:CN110015635A
,2019-07-16
[6]
用于测试传感器的方法
[P].
S·莱曼
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0
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0
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机构:
大陆汽车科技有限公司
大陆汽车科技有限公司
S·莱曼
.
德国专利
:CN112567206B
,2024-02-23
[7]
用于测试传感器的方法
[P].
S·莱曼
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S·莱曼
.
中国专利
:CN112567206A
,2021-03-26
[8]
振动传感器的测试系统和测试方法
[P].
孔宪博
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机构:
无锡韦感半导体有限公司
无锡韦感半导体有限公司
孔宪博
;
赵读亮
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机构:
无锡韦感半导体有限公司
无锡韦感半导体有限公司
赵读亮
;
刘新华
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机构:
无锡韦感半导体有限公司
无锡韦感半导体有限公司
刘新华
;
万蔡辛
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机构:
无锡韦感半导体有限公司
无锡韦感半导体有限公司
万蔡辛
.
中国专利
:CN113063493B
,2024-09-20
[9]
振动传感器的测试系统和测试方法
[P].
孔宪博
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孔宪博
;
赵读亮
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赵读亮
;
刘新华
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刘新华
;
万蔡辛
论文数:
0
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0
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万蔡辛
.
中国专利
:CN113063493A
,2021-07-02
[10]
接近传感器的测试方法及接近传感器的测试系统
[P].
徐振宾
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徐振宾
;
李敬
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李敬
.
中国专利
:CN111239750A
,2020-06-05
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