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質量分析装置および検波ユニット[ja]
被引:0
申请号
:
JP20230553911
申请日
:
2021-10-18
公开(公告)号
:
JP7571895B2
公开(公告)日
:
2024-10-23
发明(设计)人
:
申请人
:
申请人地址
:
IPC主分类号
:
H01J49/42
IPC分类号
:
G01N27/62
代理机构
:
代理人
:
法律状态
:
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
共 50 条
[1]
撮像ユニット、質量分析装置、及び質量分析方法[ja]
[P].
日本专利
:JP7424578B2
,2024-01-30
[2]
質量分析装置および質量分析方法[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2012067195A1
,2014-05-19
[3]
質量分析装置および質量分析方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6818322B2
,2021-01-20
[4]
質量分析装置および質量分析方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6976445B2
,2021-12-08
[5]
質量分析装置および質量分析方法[ja]
[P].
日本专利
:JP7280843B2
,2023-05-24
[6]
質量分析装置および質量分析方法[ja]
[P].
日本专利
:JP7601242B2
,2024-12-17
[7]
質量分析装置および質量分析方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6938297B2
,2021-09-22
[8]
質量分析装置および質量分析方法[ja]
[P].
日本专利
:JP7188441B2
,2022-12-13
[9]
質量分析装置および質量分析方法[ja]
[P].
日本专利
:JP7074213B2
,2022-05-24
[10]
質量分析装置および質量分析方法[ja]
[P].
日本专利
:JP7077481B2
,2022-05-30
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