程序的测试方法、装置、电子设备及存储介质

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202111676623.7
申请日
2021-12-31
公开(公告)号
CN116414682B
公开(公告)日
2024-10-25
发明(设计)人
乔崇
申请人
龙芯中科(成都)技术有限公司
申请人地址
610212 四川省成都市中国(四川)自由贸易试验区成都高新区和乐一街71号3栋16层
IPC主分类号
G06F11/36
IPC分类号
代理机构
北京润泽恒知识产权代理有限公司 11319
代理人
莎日娜
法律状态
授权
国省代码
江苏省 常州市
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共 50 条
[1]
测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
王芸红 .
中国专利 :CN120295843A ,2025-07-11
[2]
程序测试的方法、装置、电子设备和存储介质 [P]. 
张东 .
中国专利 :CN113138935A ,2021-07-20
[3]
程序测试方法、系统、电子设备、存储介质及程序产品 [P]. 
李辉 ;
赵亚娟 ;
周雅慧 ;
郑东铭 ;
梁志伟 .
中国专利 :CN120892356B ,2025-12-16
[4]
程序测试方法、系统、电子设备、存储介质及程序产品 [P]. 
李辉 ;
赵亚娟 ;
周雅慧 ;
郑东铭 ;
梁志伟 .
中国专利 :CN120892356A ,2025-11-04
[5]
程序的升级方法和装置、存储介质及电子设备 [P]. 
罗有德 .
中国专利 :CN120029650A ,2025-05-23
[6]
程序的升级方法和装置、存储介质及电子设备 [P]. 
罗有德 .
中国专利 :CN120029650B ,2025-09-05
[7]
应用程序测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
江佳宇 ;
蒋剑琴 ;
赵东 ;
黄小刚 .
中国专利 :CN114064450A ,2022-02-18
[8]
程序运行方法、装置、电子设备、车辆及存储介质 [P]. 
郑超 ;
米波 .
中国专利 :CN120068117A ,2025-05-30
[9]
由电子设备执行的方法、电子设备、存储介质及程序产品 [P]. 
文学 .
中国专利 :CN120851238A ,2025-10-28
[10]
芯片测试方法、电子设备、存储介质及程序产品 [P]. 
范扬晓 ;
沈品英 .
中国专利 :CN120847130A ,2025-10-28