制造半导体装置的方法、多栅极半导体装置及其制造方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202410189506.5
申请日
2024-02-20
公开(公告)号
CN118888444A
公开(公告)日
2024-11-01
发明(设计)人
林汶儀 胡希圣 朱崇豪 陈朝祺
申请人
台湾积体电路制造股份有限公司
申请人地址
中国台湾新竹市新竹科学工业园区力行六路八号
IPC主分类号
H01L21/336
IPC分类号
H01L21/28 H01L29/423 H01L29/06 H01L29/08 H01L29/10 H01L29/78
代理机构
北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006
代理人
徐金国
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[1]
半导体装置、半导体装置的栅极结构及其制造方法 [P]. 
廖政华 .
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[2]
半导体装置的栅极结构、半导体装置及其制造方法 [P]. 
韦国樑 ;
李鸿志 .
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[3]
沟槽栅极半导体装置及其制造方法 [P]. 
史蒂文·皮克 .
中国专利 :CN111490102A ,2020-08-04
[4]
沟槽栅极半导体装置及其制造方法 [P]. 
史蒂文·皮克 .
:CN111490102B ,2024-08-06
[5]
半导体装置制造方法及其半导体装置 [P]. 
矢野尚 ;
林慎一郎 .
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[6]
半导体衬底的制造方法、半导体装置及其制造方法 [P]. 
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[7]
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森田大介 ;
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[8]
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[9]
半导体装置及其制造方法 [P]. 
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[10]
半导体装置及其制造方法 [P]. 
冯军宏 ;
甘正浩 .
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