一种硬盘拔插测试装置

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专利类型
实用新型
申请号
CN202420410555.2
申请日
2024-03-04
公开(公告)号
CN221946156U
公开(公告)日
2024-11-01
发明(设计)人
候相英 李茉莉
申请人
天津宏信德科技发展有限公司
申请人地址
300392 天津市滨海新区滨海高新区塘沽海洋科技园东江路5051号办公室103房间
IPC主分类号
G01R31/69
IPC分类号
G01R1/04
代理机构
北京壹川鸣知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 11765
代理人
李晨阳
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
一种硬件拔插测试装置 [P]. 
杨慧婷 ;
孟爽爽 ;
法林 ;
王宝妮 .
中国专利 :CN222050288U ,2024-11-22
[2]
一种固态硬盘物理拔插式耐久性测试装置 [P]. 
黄梓泓 ;
蓝钊 ;
钟桂平 .
中国专利 :CN221707660U ,2024-09-13
[3]
一种内存条拔插寿命测试装置 [P]. 
柳鹏飞 ;
李庆湧 ;
胡馨予 .
中国专利 :CN222690151U ,2025-03-28
[4]
电池拔插力测试装置 [P]. 
徐春财 ;
李正冬 .
中国专利 :CN211061177U ,2020-07-21
[5]
一种计算机硬件拔插测试装置 [P]. 
晁喜斌 .
中国专利 :CN217360776U ,2022-09-02
[6]
一种拔弹力测试装置 [P]. 
孙洪亮 ;
郭林丽 ;
张文斌 .
中国专利 :CN209512659U ,2019-10-18
[7]
一种插头拔插测试装置 [P]. 
董洁 ;
储洪波 ;
严沛洋 ;
陈嘉铭 ;
羊锋雁 ;
陈炎强 ;
董晨浩 ;
刘佳睿 ;
王暄 .
中国专利 :CN223401032U ,2025-09-30
[8]
一种多口拔插测试装置 [P]. 
蒋春园 ;
熊育明 ;
吴俊 .
中国专利 :CN217766798U ,2022-11-08
[9]
一种电子元件测试装置 [P]. 
高强 .
中国专利 :CN114295628A ,2022-04-08
[10]
一种硬盘测试装置 [P]. 
孟德胜 .
中国专利 :CN212647455U ,2021-03-02