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一种光学材料折射率测试装置
被引:0
专利类型
:
实用新型
申请号
:
CN202420495986.3
申请日
:
2024-03-13
公开(公告)号
:
CN222105346U
公开(公告)日
:
2024-12-03
发明(设计)人
:
彭甜甜
申请人
:
彭甜甜
申请人地址
:
463800 河南省驻马店市上蔡县华陂镇史彭村
IPC主分类号
:
G01N21/41
IPC分类号
:
G01N21/01
B25B11/00
代理机构
:
上海峥泗专利代理事务所(特殊普通合伙) 31481
代理人
:
解丽丽
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2024-12-03
授权
授权
共 50 条
[1]
一种光学材料折射率测试装置
[P].
陈旭
论文数:
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0
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陈旭
.
中国专利
:CN206399830U
,2017-08-11
[2]
一种渐变折射率光学材料在线参数测试装置
[P].
丁煜煊
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丁煜煊
;
杜昕宇
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杜昕宇
;
高宏志
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高宏志
.
中国专利
:CN213068614U
,2021-04-27
[3]
一种光学材料折射率测试装置及测试方法
[P].
龙西法
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龙西法
;
王祖建
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王祖建
;
杨云
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杨云
;
苏榕冰
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苏榕冰
;
何超
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何超
;
杨晓明
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杨晓明
.
中国专利
:CN114280007A
,2022-04-05
[4]
一种光学材料双折射率测试装置及测试方法
[P].
龙西法
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龙西法
;
王祖建
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王祖建
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杨云
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杨云
;
苏榕冰
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苏榕冰
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何超
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何超
;
杨晓明
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杨晓明
.
中国专利
:CN114324186A
,2022-04-12
[5]
一种光学材料双折射率的测试装置及测试方法
[P].
龙西法
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龙西法
;
王祖建
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王祖建
;
杨云
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杨云
;
苏榕冰
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苏榕冰
;
何超
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何超
;
杨晓明
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杨晓明
.
中国专利
:CN113533254A
,2021-10-22
[6]
光学材料紫外折射率测试方法
[P].
李兢
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李兢
;
姜敬陆
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姜敬陆
;
徐华峰
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徐华峰
;
李攀
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李攀
;
何学华
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何学华
.
中国专利
:CN107831140A
,2018-03-23
[7]
光学材料折射率曲线测量装置
[P].
钟舜聪
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钟舜聪
;
张秋坤
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张秋坤
;
钟剑锋
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钟剑锋
.
中国专利
:CN205049478U
,2016-02-24
[8]
一种光学胶水折射率的测试装置
[P].
陈伊铭
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机构:
武汉优光科技有限责任公司
武汉优光科技有限责任公司
陈伊铭
;
贺鹏
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武汉优光科技有限责任公司
武汉优光科技有限责任公司
贺鹏
;
肖志全
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武汉优光科技有限责任公司
武汉优光科技有限责任公司
肖志全
;
马千里
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机构:
武汉优光科技有限责任公司
武汉优光科技有限责任公司
马千里
.
中国专利
:CN222926621U
,2025-05-30
[9]
一种光学材料折射率的精密测量装置
[P].
董敬涛
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董敬涛
;
张琦
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张琦
;
吴周令
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吴周令
;
陈坚
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陈坚
;
赵建华
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赵建华
;
陶海征
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陶海征
.
中国专利
:CN203849171U
,2014-09-24
[10]
一种光学材料折射率测量方法
[P].
钱俊
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机构:
上海现代先进超精密制造中心有限公司
上海现代先进超精密制造中心有限公司
钱俊
.
中国专利
:CN117589717A
,2024-02-23
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