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一种组装胶老化测试装置
被引:0
专利类型
:
实用新型
申请号
:
CN202323527070.6
申请日
:
2023-12-25
公开(公告)号
:
CN222070417U
公开(公告)日
:
2024-11-26
发明(设计)人
:
黄金华
黄佩峰
陈开新
申请人
:
中山市鸿冠胶业有限公司
申请人地址
:
528400 广东省中山市民众镇沙仔工业园国昌路2号A幢厂房之一
IPC主分类号
:
G01N17/00
IPC分类号
:
G01N3/08
G01N3/04
G01N3/02
代理机构
:
佛山市明高知识产权代理事务所(普通合伙) 44701
代理人
:
谢磊
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2024-11-26
授权
授权
共 50 条
[1]
一种芯片的老化测试装置
[P].
鲍维俊
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鲍维俊
;
王栋
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王栋
;
刘传友
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刘传友
;
贾振华
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贾振华
;
陆知纬
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陆知纬
.
中国专利
:CN217278682U
,2022-08-23
[2]
一种涂料耐老化测试装置
[P].
熊应发
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0
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0
熊应发
.
中国专利
:CN218212555U
,2023-01-03
[3]
一种老化测试装置
[P].
邝世程
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邝世程
.
中国专利
:CN217846391U
,2022-11-18
[4]
一种老化测试装置
[P].
陈楚江
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机构:
深圳市赛华检测技术有限公司
深圳市赛华检测技术有限公司
陈楚江
.
中国专利
:CN221803963U
,2024-10-01
[5]
一种老化测试装置
[P].
余东阳
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余东阳
;
简维延
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简维延
.
中国专利
:CN205786693U
,2016-12-07
[6]
一种半导体老化冷热测试装置
[P].
姚松阳
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姚松阳
.
中国专利
:CN216411471U
,2022-04-29
[7]
镜头组装测试装置
[P].
薛莲
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机构:
联创电子科技股份有限公司
联创电子科技股份有限公司
薛莲
;
王卓
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机构:
联创电子科技股份有限公司
联创电子科技股份有限公司
王卓
;
付佳乐
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机构:
联创电子科技股份有限公司
联创电子科技股份有限公司
付佳乐
;
王庆丰
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机构:
联创电子科技股份有限公司
联创电子科技股份有限公司
王庆丰
.
中国专利
:CN222318412U
,2025-01-07
[8]
一种终端老化测试装置
[P].
孙漫漫
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孙漫漫
;
周丽萍
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周丽萍
;
何凌
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何凌
.
中国专利
:CN205622712U
,2016-10-05
[9]
一种电机老化测试装置
[P].
李东
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机构:
安徽砺剑防务科技有限公司
安徽砺剑防务科技有限公司
李东
;
张洋
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机构:
安徽砺剑防务科技有限公司
安徽砺剑防务科技有限公司
张洋
.
中国专利
:CN222014395U
,2024-11-15
[10]
一种表带老化测试装置
[P].
韦加新
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机构:
深圳市芯科云科技有限公司
深圳市芯科云科技有限公司
韦加新
;
韦昱企
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机构:
深圳市芯科云科技有限公司
深圳市芯科云科技有限公司
韦昱企
;
韦怡琳
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机构:
深圳市芯科云科技有限公司
深圳市芯科云科技有限公司
韦怡琳
;
韦志浩
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机构:
深圳市芯科云科技有限公司
深圳市芯科云科技有限公司
韦志浩
;
韦廷高
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机构:
深圳市芯科云科技有限公司
深圳市芯科云科技有限公司
韦廷高
;
韦国栋
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机构:
深圳市芯科云科技有限公司
深圳市芯科云科技有限公司
韦国栋
.
中国专利
:CN223551559U
,2025-11-14
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