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测试图卡检测方法、装置、设备及存储介质

被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202110936072.7
申请日：
2021-08-16
公开(公告)号：
CN113747146B
公开(公告)日：
2024-10-18
发明(设计)人：
闫淑娟 赵永亮 王娇娇
申请人：
昆山丘钛微电子科技股份有限公司
申请人地址：
215300 江苏省苏州市昆山高新技术产业开发区台虹路3号
IPC主分类号：
H04N17/00
IPC分类号：
代理机构：
北京众达德权知识产权代理有限公司 11570
代理人：
张桂蓉
法律状态：
授权
国省代码：
河北省 保定市
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2024-10-18 授权 授权
共 50 条
[1]
测试图卡检测方法、装置、设备及存储介质 [P]. 
闫淑娟 ;
赵永亮 ;
王娇娇 .
中国专利 :CN113747146A ,2021-12-03
[2]
测试图卡检测方法及系统 [P]. 
田应峰 ;
邬金林 ;
谢锦阳 ;
智强 ;
张军 .
中国专利 :CN115002450A ,2022-09-02
[3]
测试图像处理方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
朱健文 .
中国专利 :CN113362238A ,2021-09-07
[4]
测试图像处理方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
朱健文 .
中国专利 :CN113362238B ,2025-04-18
[5]
测试图卡的定位方法、终端及存储介质 [P]. 
马文芹 .
中国专利 :CN112985778B ,2021-06-18
[6]
卡检测方法、存储介质及卡设备 [P]. 
刘壮志 ;
郑超越 ;
聂仁皇 ;
戴邵池 .
中国专利 :CN120090665A ,2025-06-03
[7]
测试图的绘制方法、终端设备及存储介质 [P]. 
王天奇 .
中国专利 :CN111795805B ,2020-10-20
[8]
WAT测试中探针卡检测方法、装置、设备及存储介质 [P]. 
汪小中 ;
龚雁鹏 ;
谢箭 .
中国专利 :CN118858875B ,2025-02-07
[9]
WAT测试中探针卡检测方法、装置、设备及存储介质 [P]. 
汪小中 ;
龚雁鹏 ;
谢箭 .
中国专利 :CN118858875A ,2024-10-29
[10]
检测方法及装置、测试设备、存储介质 [P]. 
李添琦 ;
郑晓航 .
中国专利 :CN112113786B ,2020-12-22
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