一种光学检测装置及检测方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202411195949.1

申请日：

2024-08-29

公开(公告)号：

CN119023216A

公开(公告)日：

2024-11-26

发明(设计)人：

沈海滢杨佳怡董莲华高运华

申请人：

中国计量科学研究院

申请人地址：

100020 北京市朝阳区北三环东路18号

IPC主分类号：

G01M11/02

IPC分类号：

G01N21/76 H02J7/00 B01L3/00

代理机构：

北京胜誉知识产权代理有限公司 16367

代理人：

邹瑜

法律状态：

公开

国省代码：

北京市市辖区

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-11-26	公开	公开
2024-12-13	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01M 11/02申请日:20240829

共 50 条

[1]

光学检测方法和光学检测装置 [P].

大卫·K·梅福德 ;

罗伯特·A·史密斯 ;

约翰·R·洛厄尔 .

美国专利 :CN111323386B ,2024-04-19

[2]

光学检测方法和光学检测装置 [P].

大卫·K·梅福德 ;

罗伯特·A·史密斯 ;

约翰·R·洛厄尔 .

中国专利 :CN111323386A ,2020-06-23

[3]

一种光学检测装置及光学检测方法 [P].

刘建宏 ;

张乐 ;

宋志强 .

中国专利 :CN113933268A ,2022-01-14

[4]

一种光学检测装置及光学检测方法 [P].

颜圣佑 ;

朱志飞 ;

郭连俊 ;

许玉佩 .

中国专利 :CN107389696A ,2017-11-24

[5]

一种光学检测装置及光学检测方法 [P].

刘建宏 ;

张乐 ;

宋志强 .

中国专利 :CN113933268B ,2024-03-19

[6]

一种光学检测装置及光学检测方法 [P].

陆俊杰 ;

吴昌力 ;

冯宏 ;

郑军 .

中国专利 :CN117470856A ,2024-01-30

[7]

一种光学检测装置及光学检测方法 [P].

徐红星 ;

姜巍 ;

张福平 ;

陶雷 .

中国专利 :CN117129422B ,2024-01-30

[8]

一种智能光学检测装置与光学检测方法 [P].

张瑞华 ;

罗雨洁 ;

张威 .

中国专利 :CN114235824A ,2022-03-25

[9]

光学检测装置及光学检测方法 [P].

杨善 ;

龚士勋 ;

黄彦桦 .

中国专利 :CN119845149A ,2025-04-18

[10]

光学检测方法及光学检测装置 [P].

安浦雅人 ;

藤卷真 ;

芦叶裕树 ;

岛隆之 .

中国专利 :CN109154561B ,2019-01-04

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