设备测试方法、装置、设备及可读存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202410837323.X

申请日：

2024-06-25

公开(公告)号：

CN118819976A

公开(公告)日：

2024-10-22

发明(设计)人：

孙天宇

申请人：

深圳市基克纳科技有限公司

申请人地址：

518000 广东省深圳市宝安区西乡街道劳动社区前海科兴科学园1号楼605

IPC主分类号：

G06F11/22

IPC分类号：

G01R31/00 G01M99/00

代理机构：

深圳中一联合知识产权代理有限公司 44414

代理人：

秦浙

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

广东省深圳市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-11-08	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G06F 11/22申请日:20240625
2024-10-22	公开	公开

共 50 条

[1]

设备测试方法、装置、电子设备及可读存储介质 [P].

薛雨 ;

袁俊卿 .

中国专利 :CN119917415A ,2025-05-02

[2]

设备测试方法、装置、电子设备及可读存储介质 [P].

张利 ;

李丹丹 ;

万诚 .

中国专利 :CN117491780A ,2024-02-02

[3]

设备测试方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质 [P].

朱燕雄 ;

叶强 ;

陈木崇 ;

王楠 ;

朱燕升 ;

赵燕 .

中国专利 :CN117834058A ,2024-04-05

[4]

设备测试方法、装置和可读存储介质 [P].

李银江 ;

付美玲 ;

徐柳茂 ;

陈春 ;

苏坦 .

中国专利 :CN120029889A ,2025-05-23

[5]

测试设备、测试方法、装置、设备及存储介质 [P].

刘启飞 .

中国专利 :CN120712491A ,2025-09-26

[6]

测试方法、测试设备及可读存储介质 [P].

钱华锋 ;

李宇君 .

中国专利 :CN120705031A ,2025-09-26

[7]

设备测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

李伟玲 ;

刘金胜 ;

苑京立 ;

李明明 ;

夏永强 ;

覃琴 ;

李伟 ;

张辉 .

中国专利 :CN118741401A ,2024-10-01

[8]

设备测试方法、装置、设备及存储介质 [P].

邓凌星 ;

李升根 .

中国专利 :CN115658396A ,2023-01-31

[9]

设备测试方法、装置、设备及存储介质 [P].

邓鹏 ;

廖刚 .

中国专利 :CN119445431A ,2025-02-14

[10]

设备测试方法、装置、设备及存储介质 [P].

许崇铭 ;

吴瀚平 .

中国专利 :CN117724745A ,2024-03-19

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