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窄脉冲测试方法、窄脉冲测试电路和ATE测试系统
被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202411501031.5
申请日：
2024-10-25
公开(公告)号：
CN119001411A
公开(公告)日：
2024-11-22
发明(设计)人：
李甜
彭志强
申请人：
芯洲科技（北京）股份有限公司
申请人地址：
100088 北京市海淀区学院路51号11层1101室
IPC主分类号：
G01R31/28
IPC分类号：
代理机构：
北京慧加伦知识产权代理有限公司 16035
代理人：
白玉娜
法律状态：
授权
国省代码：
北京市
市辖区
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2024-12-31 | 授权 | 授权 |
| 2024-12-10 | 实质审查的生效 | 实质审查的生效IPC(主分类):G01R 31/28申请日:20241025 |
| 2024-11-22 | 公开 | 公开 |