芯片测试装置及方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202411420242.6
申请日
2024-10-12
公开(公告)号
CN119087192A
公开(公告)日
2024-12-06
发明(设计)人
赖俊生
申请人
皇虎测试科技(深圳)有限公司
申请人地址
518000 广东省深圳市南山区西丽街道松坪山社区科技北二路25号航天微电机厂房科研楼B座二层
IPC主分类号
G01R31/28
IPC分类号
G01R1/04 G01R1/067 G01R1/073
代理机构
北京鸿元知识产权代理有限公司 11327
代理人
王迎;袁文婷
法律状态
实质审查的生效
国省代码
广东省 深圳市
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共 50 条
[1]
芯片测试装置及方法 [P]. 
赖俊生 .
中国专利 :CN118937973A ,2024-11-12
[2]
芯片测试装置及方法 [P]. 
赖俊生 .
中国专利 :CN119087193A ,2024-12-06
[3]
芯片测试装置及方法 [P]. 
赖俊生 .
中国专利 :CN119087191A ,2024-12-06
[4]
芯片测试装置及方法 [P]. 
赖俊生 .
中国专利 :CN118937973B ,2025-01-17
[5]
芯片测试装置及方法 [P]. 
赖俊生 .
中国专利 :CN119087190A ,2024-12-06
[6]
芯片测试装置及方法 [P]. 
赖俊生 .
中国专利 :CN119087194A ,2024-12-06
[7]
芯片测试装置 [P]. 
赖俊生 .
中国专利 :CN223377441U ,2025-09-23
[8]
芯片定位测试装置 [P]. 
赖俊生 .
中国专利 :CN223401000U ,2025-09-30
[9]
芯片接触测试装置 [P]. 
赖俊生 .
中国专利 :CN223400999U ,2025-09-30
[10]
芯片侧推测试装置及方法 [P]. 
赖俊生 .
中国专利 :CN119310320A ,2025-01-14