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芯片测试装置及方法
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202411420242.6
申请日
:
2024-10-12
公开(公告)号
:
CN119087192A
公开(公告)日
:
2024-12-06
发明(设计)人
:
赖俊生
申请人
:
皇虎测试科技(深圳)有限公司
申请人地址
:
518000 广东省深圳市南山区西丽街道松坪山社区科技北二路25号航天微电机厂房科研楼B座二层
IPC主分类号
:
G01R31/28
IPC分类号
:
G01R1/04
G01R1/067
G01R1/073
代理机构
:
北京鸿元知识产权代理有限公司 11327
代理人
:
王迎;袁文婷
法律状态
:
实质审查的生效
国省代码
:
广东省 深圳市
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2024-12-24
实质审查的生效
实质审查的生效IPC(主分类):G01R 31/28申请日:20241012
2024-12-06
公开
公开
共 50 条
[1]
芯片测试装置及方法
[P].
赖俊生
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
皇虎测试科技(深圳)有限公司
皇虎测试科技(深圳)有限公司
赖俊生
.
中国专利
:CN118937973A
,2024-11-12
[2]
芯片测试装置及方法
[P].
赖俊生
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
皇虎测试科技(深圳)有限公司
皇虎测试科技(深圳)有限公司
赖俊生
.
中国专利
:CN119087193A
,2024-12-06
[3]
芯片测试装置及方法
[P].
赖俊生
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
皇虎测试科技(深圳)有限公司
皇虎测试科技(深圳)有限公司
赖俊生
.
中国专利
:CN119087191A
,2024-12-06
[4]
芯片测试装置及方法
[P].
赖俊生
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
皇虎测试科技(深圳)有限公司
皇虎测试科技(深圳)有限公司
赖俊生
.
中国专利
:CN118937973B
,2025-01-17
[5]
芯片测试装置及方法
[P].
赖俊生
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
皇虎测试科技(深圳)有限公司
皇虎测试科技(深圳)有限公司
赖俊生
.
中国专利
:CN119087190A
,2024-12-06
[6]
芯片测试装置及方法
[P].
赖俊生
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
皇虎测试科技(深圳)有限公司
皇虎测试科技(深圳)有限公司
赖俊生
.
中国专利
:CN119087194A
,2024-12-06
[7]
芯片测试装置
[P].
赖俊生
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
皇虎测试科技(深圳)有限公司
皇虎测试科技(深圳)有限公司
赖俊生
.
中国专利
:CN223377441U
,2025-09-23
[8]
芯片定位测试装置
[P].
赖俊生
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
皇虎测试科技(深圳)有限公司
皇虎测试科技(深圳)有限公司
赖俊生
.
中国专利
:CN223401000U
,2025-09-30
[9]
芯片接触测试装置
[P].
赖俊生
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
皇虎测试科技(深圳)有限公司
皇虎测试科技(深圳)有限公司
赖俊生
.
中国专利
:CN223400999U
,2025-09-30
[10]
芯片侧推测试装置及方法
[P].
赖俊生
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
皇虎测试科技(深圳)有限公司
皇虎测试科技(深圳)有限公司
赖俊生
.
中国专利
:CN119310320A
,2025-01-14
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