一种老化用编码器测试装置

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN202420181304.1

申请日：

2024-01-25

公开(公告)号：

CN221925193U

公开(公告)日：

2024-10-29

发明(设计)人：

方国祥

申请人：

上海恒祥光学电子有限公司

申请人地址：

201611 上海市松江区南乐路1276弄115号7幢301室

IPC主分类号：

G01D18/00

IPC分类号：

代理机构：

上海霖睿专利代理事务所(普通合伙) 31391

代理人：

黄燕石

法律状态：

授权

国省代码：

上海市市辖区

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-10-29	授权	授权

共 50 条

[1]

一种编码器测试装置 [P].

李朝权 .

中国专利 :CN217210939U ,2022-08-16

[2]

一种编码器测试装置 [P].

赵美红 ;

吴振杨 ;

潘振标 .

中国专利 :CN221549736U ,2024-08-16

[3]

一种编码器测试装置 [P].

崔峰铭 ;

李延星 ;

孟昭辉 .

中国专利 :CN218035104U ,2022-12-13

[4]

一种编码器测试装置 [P].

蒋宝林 ;

李颖琳 ;

苏鸿革 .

中国专利 :CN222298845U ,2025-01-03

[5]

一种编码器测试装置 [P].

韩毅博 ;

刘健 .

中国专利 :CN203534615U ,2014-04-09

[6]

一种编码器测试装置 [P].

周赟杰 .

中国专利 :CN221882618U ,2024-10-22

[7]

一种编码器的变速测试装置 [P].

邢李方 ;

王宏伟 ;

吴昊 ;

云峰 ;

任玉廷 ;

葛鎣 .

中国专利 :CN216144356U ,2022-03-29

[8]

一种双编码器高速测试装置 [P].

陈永生 .

中国专利 :CN223678531U ,2025-12-16

[9]

一种编码器用测试装置 [P].

徐哲 .

中国专利 :CN210603372U ,2020-05-22

[10]

旋转编码器测试装置 [P].

刘元江 ;

周忠厚 ;

刘元宜 .

中国专利 :CN209197766U ,2019-08-02

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