一种键盘键帽缺陷的检测设备及其检测方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202411163356.7

申请日：

2024-08-23

公开(公告)号：

CN119044185A

公开(公告)日：

2024-11-29

发明(设计)人：

刘荷青

申请人：

东莞市浩坚电子有限公司

申请人地址：

523728 广东省东莞市塘厦镇平山188工业区先锋路45号A栋西座二楼

IPC主分类号：

G01N21/892

IPC分类号：

G01N21/01 B07C5/02 B07C5/342 B07C5/36 B07C5/38 B65G47/18 B65G47/24

代理机构：

代理人：

法律状态：

授权

国省代码：

广东省东莞市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-02-11	授权	授权
2024-11-29	公开	公开
2024-12-17	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01N 21/892申请日:20240823

共 50 条

[1]

一种键盘键帽缺陷的检测设备及其检测方法 [P].

刘荷青 .

中国专利 :CN119044185B ,2025-02-11

[2]

一种键盘键帽缺陷的检测设备及其检测方法 [P].

夏奇兵 ;

欧文灏 ;

蔡志华 ;

王厚杰 .

中国专利 :CN117169234B ,2024-01-05

[3]

键盘键帽检测设备 [P].

刘良良 .

中国专利 :CN307525930S ,2022-09-02

[4]

一种键帽缺陷检测设备 [P].

刘伟伟 .

中国专利 :CN214668695U ,2021-11-09

[5]

一种键盘及键帽生产的材质缺陷检测方法 [P].

黄华 ;

潘嘉豪 ;

袁晶 .

中国专利 :CN121033031A ,2025-11-28

[6]

一种键帽检测机 [P].

覃永安 .

中国专利 :CN215525569U ,2022-01-14

[7]

一种基于CCD多相机视觉检测的键盘键帽不良检测设备 [P].

顾耀平 ;

任建明 ;

孙国强 .

中国专利 :CN120778729A ,2025-10-14

[8]

键帽检测装置和键帽检测设备 [P].

单炳正 ;

李勃 ;

董蓉 ;

陈大千 .

中国专利 :CN212845071U ,2021-03-30

[9]

一种键帽漏光检测设备 [P].

刘伟伟 ;

王马林 ;

于欢 ;

陈辉 .

中国专利 :CN215894416U ,2022-02-22

[10]

键盘检测设备及其检测方法 [P].

许志宏 ;

吴政刚 .

中国专利 :CN104792266A ,2015-07-22

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