一种基板玻璃缺陷检测方法、系统、设备及存储介质

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202411287867.X
申请日
2024-09-14
公开(公告)号
CN118799324B
公开(公告)日
2024-11-19
发明(设计)人
赵乾柏
申请人
湖南邵虹特种玻璃股份有限公司
申请人地址
422000 湖南省邵阳市双清区邵阳经济开发区F-22地块
IPC主分类号
G06T7/00
IPC分类号
G06V10/46 G06V10/764 G06V10/80 G06V10/82 G06V10/74
代理机构
北京风雅颂专利代理有限公司 11403
代理人
张莉
法律状态
授权
国省代码
河北省 衡水市
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共 50 条
[1]
一种基板玻璃缺陷检测方法、系统、设备及存储介质 [P]. 
赵乾柏 .
中国专利 :CN118799324A ,2024-10-18
[2]
缺陷检测方法、缺陷检测系统、终端设备及存储介质 [P]. 
朱合军 ;
钟建平 ;
林淼 ;
张恒瑞 ;
马先明 ;
陈其涛 ;
康映华 .
中国专利 :CN117726610A ,2024-03-19
[3]
缺陷检测方法、装置、设备、系统及存储介质 [P]. 
韩磊 ;
林天鹏 ;
谢鸿洋 ;
郑凯 ;
李琳 .
中国专利 :CN118037619A ,2024-05-14
[4]
一种缺陷检测方法、系统、计算设备及存储介质 [P]. 
范国辉 ;
鲍肖肖 ;
陈文能 ;
林涛 ;
贺珍真 .
中国专利 :CN115546180A ,2022-12-30
[5]
基板玻璃缺陷检测方法及装置 [P]. 
李青 ;
李赫然 ;
吴松江 ;
苏记华 ;
刘丹 ;
张晓宇 ;
尚建威 ;
付冲 ;
李岗 .
中国专利 :CN111239161A ,2020-06-05
[6]
一种手机玻璃盖板缺陷检测方法、系统、设备及存储介质 [P]. 
余楷 ;
邹赛 ;
曾建军 ;
马震 ;
杨松 ;
韩云杰 ;
兰英建 ;
伍伟德 ;
吴冰 ;
周予 ;
焦凯星 .
中国专利 :CN119417836A ,2025-02-11
[7]
一种缺陷检测方法及相关设备、系统和存储介质 [P]. 
李森森 ;
刘羽 ;
周璐 ;
李翔 ;
李铭 .
中国专利 :CN118706836A ,2024-09-27
[8]
一种缺陷检测方法、缺陷检测系统及存储介质 [P]. 
杜文莉 ;
堵威 ;
曹志兴 ;
钟伟民 ;
钱锋 .
中国专利 :CN119313967A ,2025-01-14
[9]
IC芯片缺陷检测方法、系统、设备及存储介质 [P]. 
罗建华 ;
陈林才 ;
王乐园 ;
古奕康 ;
龙志斌 .
中国专利 :CN118392870A ,2024-07-26
[10]
缺陷成像系统、缺陷检测方法、设备及存储介质 [P]. 
高俊愿 ;
张武杰 .
中国专利 :CN121049263A ,2025-12-02