自适应存储器错误检测和校正

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202380031768.2
申请日
2023-03-22
公开(公告)号
CN118984989A
公开(公告)日
2024-11-19
发明(设计)人
D·K·阿贾瓦尔 K·德塞 J·沙赫 R·格哈罗特
申请人
高通股份有限公司
申请人地址
美国加利福尼亚州
IPC主分类号
G06F11/10
IPC分类号
代理机构
北京市金杜律师事务所 11256
代理人
姚宗妮
法律状态
授权
国省代码
引用
下载
收藏
共 50 条
[1]
自适应存储器错误检测和校正的方法和系统 [P]. 
D·K·阿贾瓦尔 ;
K·德塞 ;
J·沙赫 ;
R·格哈罗特 .
美国专利 :CN118984989B ,2025-06-17
[2]
在存储器错误检测和存储器错误校正之间动态选择 [P]. 
J.C.莫古尔 ;
N.穆拉里马诺哈 ;
M.A.莎 ;
E.A.安德森 .
中国专利 :CN104813409A ,2015-07-29
[3]
自适应错误检查与校正的半导体存储器装置和存储器系统 [P]. 
金德成 ;
金光贤 .
中国专利 :CN109767806A ,2019-05-17
[4]
基于分层错误检测的存储器错误校正 [P]. 
S·D·汉娜 .
中国专利 :CN114627953A ,2022-06-14
[5]
基于分层错误检测的存储器错误校正 [P]. 
S·D·汉娜 .
美国专利 :CN114627953B ,2025-12-16
[6]
存储器的错误校正 [P]. 
都殷协 ;
姜峦根 .
中国专利 :CN114765057A ,2022-07-19
[7]
存储器器件、错误校正码系统和校正错误的方法 [P]. 
野口纮希 ;
池育德 ;
杨学之 ;
兰迪·奥斯本 ;
柯文昇 .
中国专利 :CN110970081A ,2020-04-07
[8]
存储器中的错误校正 [P]. 
R.H.莫特瓦尼 ;
K.潘加尔 .
中国专利 :CN105659332B ,2016-06-08
[9]
用于存储器的错误校正 [P]. 
威廉·亨利·拉德克 .
中国专利 :CN101779194B ,2010-07-14
[10]
用于存储器的错误检测/校正方案 [P]. 
伯努瓦·戈达尔 ;
让·米歇尔·达加 .
中国专利 :CN101510448A ,2009-08-19