試験体の腐食量の測定方法[ja]

被引：0

申请号：

JP20220026329

申请日：

2022-02-24

公开(公告)号：

JP7524916B2

公开(公告)日：

2024-07-30

发明(设计)人：

申请人：

申请人地址：

IPC主分类号：

G01N33/2045

IPC分类号：

G01N23/046

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法律状态信息

共 50 条

[1]

電線試験片の暴露試験装置と、この電線試験片の暴露試験装置を使用した、電線試験片の腐食状態測定方法[ja] [P].

日本专利 :JP5867804B2 ,2016-02-24

[2]

試料の測定方法[ja] [P].

SADAI ASAKO ;

MIYAMOTO TSUGUHISA .

日本专利 :JP2025017164A ,2025-02-05

[3]

金属体の腐食速度測定方法[ja] [P].

日本专利 :JP6026055B2 ,2016-11-16

[4]

金属体の腐食速度測定方法[ja] [P].

日本专利 :JPWO2016002897A1 ,2017-04-27

[5]

試験片の破壊靭性測定方法[ja] [P].

日本专利 :JP6103534B2 ,2017-03-29

[6]

生体試料中の細菌の測定方法[ja] [P].

日本专利 :JP2021518543A ,2021-08-02

[7]

生体試料中の細菌の測定方法[ja] [P].

日本专利 :JP7509687B2 ,2024-07-02

[8]

試料の光学測定方法[ja] [P].

日本专利 :JP6432817B2 ,2018-12-05

[9]

試験測定装置及び被試験デバイスの性能測定方法[ja] [P].

日本专利 :JP7642330B2 ,2025-03-10

[10]

試料中の基質の測定方法[ja] [P].

IWASA HISANORI ;

TSUJI KATSUMI ;

YONEDA KEIZO ;

HIRATSUKA ATSUNORI ;

TANAKA TAKESHI ;

ROKUSHA HITOSHI .

日本专利 :JP2024070325A ,2024-05-23

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